[发明专利]集料颗粒中有害颗粒的评价方法有效
| 申请号: | 201710266654.2 | 申请日: | 2017-04-21 |
| 公开(公告)号: | CN107194915B | 公开(公告)日: | 2020-07-10 |
| 发明(设计)人: | 曹源文;梁乃兴;马丽英;杨芬;归少雄;刘广平 | 申请(专利权)人: | 重庆交通大学 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/13 |
| 代理公司: | 重庆谢成律师事务所 50224 | 代理人: | 邬剑星 |
| 地址: | 400074 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 集料 颗粒 有害 评价 方法 | ||
1.一种集料颗粒中有害颗粒的评价方法,其特征在于:包括如下步骤:
S1.采集集料颗粒的图像,并根据所采集的图像获取集料颗粒图像边缘信息;
S2.根据集料颗粒图像边缘信息获取有害颗粒的评价参数;
S3.根据有害颗粒的评价参数筛选出有害颗粒以及有害颗粒的含量,其中,有害颗粒包括针状颗粒和片状颗粒;
评价参数包括集料颗粒的平面形状指数Yi、颗粒最大直径Dimax、颗粒最小直径Dimin、颗粒的厚度Hi以及颗粒的平均直径Dimean,其中,集料颗粒的平面形状指数Yi是指集料颗粒的等效椭圆的长轴和短轴的比值,i表示样本中第i个颗粒;
步骤S3中,根据如下方法评价针状颗粒:
S3a1.求取集料颗粒i的最大直径和最小直径的比值Xi:
S3a2.求取所有集料颗粒的比值Xi和平面形状指数之间的误差σ1:
S3a3.计算误差修正系数δ:
S3a4.计算针状系数Zi:
当σ1σ′1,则:Zi=Yi+δ;
当σ1≤σ′1,则:Zi=Yi,其中,σ′1为设定误差阈值;
S3a5.根据针状系数Zi判断集料颗粒是否为针状颗粒:
若1≤Zi2,则当前集料颗粒为理想颗粒;
若2≤Zi2.4,则当前集料颗粒为针状趋势颗粒;
若Zi≥2.4,则当前集料颗粒为针状颗粒。
2.根据权利要求1所述集料颗粒中有害颗粒的评价方法,其特征在于:步骤S3中,根据如下方法评价片状颗粒:
S3b1.计算集料颗粒的片状系数Pi:
S3b2.根据片状系数Pi判断集料颗粒是否为片状颗粒:
若:0Pi≤0.4,当前集料颗粒为片状颗粒;
若:0.4Pi≤0.5,当前集料颗粒为片状趋势颗粒;
若:0.5Pi≤1,当前集料颗粒为理想颗粒。
3.根据权利要求2所述集料颗粒中有害颗粒的评价方法,其特征在于:建立针片状颗粒的联合判断指标:
集料颗粒的针状程度通过如下公式表示:
集料颗粒的片状程度通过如下公式表示:
集料颗粒的针片状程度则通过如下公式表示:
其中,i表示第i个集料颗粒,当ci=0时,表明该颗粒为理想的饱满颗粒;当ci=1时,表明该颗粒为轻度针状或轻度片状颗粒;当ci=2时,表明该颗粒为轻度针片状颗粒、针状颗粒或片状颗粒;当ci=3时,表明该颗粒为针状加轻度片状颗粒或片状加轻度针状颗粒;当ci=4时,表明该颗粒为针片状颗粒;且当ci≥2时集料颗粒为有害颗粒。
4.根据权利要求3所述集料颗粒中有害颗粒的评价方法,其特征在于:通过如下方法评价集料颗粒中有害颗粒的含量:
其中,α表示有害颗粒在集料颗粒中的含量,Vz表示集料颗粒的体积;Vi表示有害颗粒的体积。
5.根据权利要求1所述集料颗粒中有害颗粒的评价方法,其特征在于:根据如下方法获取集料颗粒图像边缘信息:
S11.建立集料颗粒图像f(x,y)在像素(x,y)的梯度向量
其中,Gx(x,y)表示图像中颗粒边缘点在x方向上的一阶差分,Gy(x,y)表示图像中颗粒边缘点在y方向上的一阶差分;
S12.计算梯度幅度
其中,mag{}为幅度函数;
S13.将计算出的梯度幅度值与设定的阈值进行比较,如果大于设定的阈值,则认为像素点(x,y)为集料图像的边缘点。
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