[发明专利]集料颗粒中有害颗粒的评价方法有效

专利信息
申请号: 201710266654.2 申请日: 2017-04-21
公开(公告)号: CN107194915B 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 曹源文;梁乃兴;马丽英;杨芬;归少雄;刘广平 申请(专利权)人: 重庆交通大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/13
代理公司: 重庆谢成律师事务所 50224 代理人: 邬剑星
地址: 400074 *** 国省代码: 重庆;50
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 集料 颗粒 有害 评价 方法
【权利要求书】:

1.一种集料颗粒中有害颗粒的评价方法,其特征在于:包括如下步骤:

S1.采集集料颗粒的图像,并根据所采集的图像获取集料颗粒图像边缘信息;

S2.根据集料颗粒图像边缘信息获取有害颗粒的评价参数;

S3.根据有害颗粒的评价参数筛选出有害颗粒以及有害颗粒的含量,其中,有害颗粒包括针状颗粒和片状颗粒;

评价参数包括集料颗粒的平面形状指数Yi、颗粒最大直径Dimax、颗粒最小直径Dimin、颗粒的厚度Hi以及颗粒的平均直径Dimean,其中,集料颗粒的平面形状指数Yi是指集料颗粒的等效椭圆的长轴和短轴的比值,i表示样本中第i个颗粒;

步骤S3中,根据如下方法评价针状颗粒:

S3a1.求取集料颗粒i的最大直径和最小直径的比值Xi

S3a2.求取所有集料颗粒的比值Xi和平面形状指数之间的误差σ1

S3a3.计算误差修正系数δ:

S3a4.计算针状系数Zi

当σ1σ′1,则:Zi=Yi+δ;

当σ1≤σ′1,则:Zi=Yi,其中,σ′1为设定误差阈值;

S3a5.根据针状系数Zi判断集料颗粒是否为针状颗粒:

若1≤Zi2,则当前集料颗粒为理想颗粒;

若2≤Zi2.4,则当前集料颗粒为针状趋势颗粒;

若Zi≥2.4,则当前集料颗粒为针状颗粒。

2.根据权利要求1所述集料颗粒中有害颗粒的评价方法,其特征在于:步骤S3中,根据如下方法评价片状颗粒:

S3b1.计算集料颗粒的片状系数Pi

S3b2.根据片状系数Pi判断集料颗粒是否为片状颗粒:

若:0Pi≤0.4,当前集料颗粒为片状颗粒;

若:0.4Pi≤0.5,当前集料颗粒为片状趋势颗粒;

若:0.5Pi≤1,当前集料颗粒为理想颗粒。

3.根据权利要求2所述集料颗粒中有害颗粒的评价方法,其特征在于:建立针片状颗粒的联合判断指标:

集料颗粒的针状程度通过如下公式表示:

集料颗粒的片状程度通过如下公式表示:

集料颗粒的针片状程度则通过如下公式表示:

其中,i表示第i个集料颗粒,当ci=0时,表明该颗粒为理想的饱满颗粒;当ci=1时,表明该颗粒为轻度针状或轻度片状颗粒;当ci=2时,表明该颗粒为轻度针片状颗粒、针状颗粒或片状颗粒;当ci=3时,表明该颗粒为针状加轻度片状颗粒或片状加轻度针状颗粒;当ci=4时,表明该颗粒为针片状颗粒;且当ci≥2时集料颗粒为有害颗粒。

4.根据权利要求3所述集料颗粒中有害颗粒的评价方法,其特征在于:通过如下方法评价集料颗粒中有害颗粒的含量:

其中,α表示有害颗粒在集料颗粒中的含量,Vz表示集料颗粒的体积;Vi表示有害颗粒的体积。

5.根据权利要求1所述集料颗粒中有害颗粒的评价方法,其特征在于:根据如下方法获取集料颗粒图像边缘信息:

S11.建立集料颗粒图像f(x,y)在像素(x,y)的梯度向量

其中,Gx(x,y)表示图像中颗粒边缘点在x方向上的一阶差分,Gy(x,y)表示图像中颗粒边缘点在y方向上的一阶差分;

S12.计算梯度幅度

其中,mag{}为幅度函数;

S13.将计算出的梯度幅度值与设定的阈值进行比较,如果大于设定的阈值,则认为像素点(x,y)为集料图像的边缘点。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆交通大学,未经重庆交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710266654.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top