[发明专利]具有数字静区的测量系统和方法

说明书

本发明涉及具有数字静区的测量系统和方法，其中用于通过无线方式测量被测设备(14)的性能的测量系统(10)包括：天线阵列(13)，该天线阵列(13)用于从被测设备(14)接收第一测量信号；测量设备(12)，该测量设备(12)用于处理天线阵列(13)接收的第一测量信号，以及产生第二测量信号并使用天线阵列(13)将第二测量信号发送到被测设备(14)。测量设备(12)包括静区发生器，该静区发生器用于在天线阵列接收到第一测量信号之后对第一测量信号执行波束成形。优选地，静区发生器还用于在天线阵列发送第二测量信号之前对第二测量信号执行波束成形。静区发生器用于应用波束成形，以便得到至少一个可调节的静区(11、11a、11b、11c)。

技术领域

本发明涉及一种测量系统和测量方法，该测量系统和测量方法用于通过无线方式测量被测设备的性能。

背景技术

在通过无线方式执行对设备的测量时，重要的是防止周围物体对测量的影响。这些物体可以是例如测量天线或测量设备，或任何其它物体。这通常通过将被测设备放置为距离任何其它物体都很远来实现。因此，实现了远场环境。但是，由于需要非常大的测量设备以便实现远场环境，因此这种方法是不利的。

替选地，可以在近场环境下进行测量。但这导致了不精确的测量结果。

存在一种使用平面波转换器将近场环境转换为远场环境的方法。这样的平面波转换器通过大量模拟移相器和单独的天线来实施。这样的平面波转换器导致极大规模的实现，且非常昂贵。例如，国际专利申请WO 2016/059140A1示出了这样的一种模拟平面波转换器。

发明内容

因此，产生这样的目标：提供一种测量系统和方法，该测量系统和方法允许在近场距离、但远场环境下对被测设备进行测量，且不需要大的且昂贵的测量设备。

上述目标通过根据本发明的测量系统和测量方法而解决。

用于通过无线方式测量被测设备的性能的本发明的测量系统包括天线阵列和测量设备，该天线阵列用于从被测设备接收第一测量信号，该测量设备用于处理天线阵列所接收的第一测量信号并用于产生第二测量信号以及使用该天线阵列将第二测量信号发送到被测设备。

此外，测量设备包括静区发生器，该静区发生器用于在天线阵列接收到第一测量信号之后对该第一测量信号执行波束成形。

优选地，静区发生器还用于在天线阵列发送第二测量信号之前对第二测量信号执行波束成形。静区发生器用于应用波束成形，以便得到至少一个可调节的静区。因此，相比于通常的远场环境，能够在距离测量设备短得多的距离处人为地产生静区。

有利地，静区发生器用于应用波束成形以便该至少一个静区是可移动的。从而实现高度的测量灵活性。

进一步有利地，静区发生器用于应用波束成形，以便得到所述至少一个静区的同时得到至少一个另外的可调节的静区。从而可以同时对不同设备执行测量。

同样有利地，测量设备包括分析器和/或信号发生器，该分析器和/或信号发生器用于分析发送到至少一个静区的信号或从至少一个静区接收的信号。因此，不需要另外的测量设备来执行测量。

此外，有利地，静区发生器用于应用波束成形，以便至少一个静区位于天线阵列的近场中。这导致测量设备的封装特别小。

有利地，测量设备包括针对天线阵列的每个天线的基带单元和射频单元。这允许了非常精确的和低成本的波束成形。

进一步有利地，射频单元用于从天线阵列的天线接收第一测量信号，并用于从该第一测量信号产生第一基带信号。然后，基带单元用于基于该第一基带信号产生第一同相/正交(In-phase/Quadrature，I/Q)信号。然后，静区发生器用于对第一I/Q信号执行接收波束成形，以便产生至少一个静区。