[发明专利]具有数字静区的测量系统和方法

权利要求书

1.一种用于通过无线方式测量被测设备(14)的性能的测量系统，包括：

-天线阵列(13)，所述天线阵列(13)用于从所述被测设备(14)接收第一测量信号；

-测量设备(12)，所述测量设备(12)用于处理所述天线阵列(13)接收的所述第一测量信号，以及产生第二测量信号并使用所述天线阵列(13)将所述第二测量信号发送到所述被测设备(14)，

其中，所述测量设备(12)包括静区发生器(21)，所述静区发生器(21)被配置成在所述天线阵列(13)接收到所述第一测量信号之后对所述第一测量信号执行波束成形，

其中，所述静区发生器(21)被配置成应用波束成形，以便至少一个静区(11、11a、11b、11c)位于所述天线阵列(13)的近场中，

其中，所述测量设备(12)用于基于对所述第二测量信号的数字操控而产生干扰信号，

其中，所述静区发生器(21)被配置成对所述干扰信号执行波束成形，以及

其中，所述测量设备(12)用于产生所述干扰信号，以便所述天线阵列(13)的至少一个天线专门用于产生所述干扰信号。

2.如权利要求1所述的测量系统，其中，所述静区发生器(21)还被配置成在所述天线阵列(13)发送所述第二测量信号之前对所述第二测量信号执行波束成形，

其中，所述静区发生器(21)被配置成应用波束成形，以便得到至少一个可调节的静区(11、11a、11b、11c)。

3.如权利要求1或2所述的测量系统，其中，所述静区发生器(21)被配置成应用波束成形，使得所述至少一个静区(11、11a、11b、11c)能够移动。

4.如权利要求1或2所述的测量系统，其中，所述静区发生器(21)被配置成应用波束成形，以便得到至少一个可调节的静区(11、11a、11b、11c)的同时得到至少一个另外的可调节的静区(11、11a、11b、11c)。

5.如权利要求1或2所述的测量系统，其中，所述测量设备(12)包括分析器和/或信号发生器(20)，所述分析器和/或信号发生器(20)被配置成分析发送到所述至少一个静区(11、11a、11b、11c)的信号或从所述至少一个静区(11、11a、11b、11c)接收的信号。

6.如权利要求1或2所述的测量系统，其中，所述测量设备(12)包括针对所述天线阵列(13)的每个天线(24)的基带单元(22)和射频单元(23)。

7.如权利要求6所述的测量系统，其中，所述射频单元(23)被配置成从所述天线阵列(13)的所述天线接收所述第一测量信号，以及从所述第一测量信号产生第一基带信号；

其中，所述基带单元(22)被配置成基于所述第一基带信号产生第一I/Q信号，

其中，所述静区发生器(21)被配置成对所述第一I/Q信号执行接收波束成形，以便产生所述至少一个静区(11、11a、11b、11c)。

8.如权利要求7所述的测量系统，其中，所述静区发生器(21)被配置成产生第二I/Q信号，用以由所述基带单元(22)进行处理，

其中，所述基带单元(22)被配置成基于所提供的所述第二I/Q信号产生第二基带信号；

其中，所述射频单元(23)被配置成从所述第二基带信号产生所述第二测量信号，并使用所述天线阵列(13)的所述天线(24)发送所述第二测量信号；

其中，所述静区发生器(21)被配置成产生所述第二I/Q信号，以便实现产生所述至少一个静区(11、11a、11b、11c)的发送波束成形。

9.如权利要求6所述的测量系统，其中，所述静区发生器(21)、所述基带单元(22)和所述射频单元(23)形成具有基带波束成形的平面波转换器。