[发明专利]用于集成电路设计的方法在审
申请号: | 201710146086.2 | 申请日: | 2017-03-13 |
公开(公告)号: | CN107315848A | 公开(公告)日: | 2017-11-03 |
发明(设计)人: | 姜慧如;萧铮;黄章祐;陈瓀懿;苏哿暐;林忠凱;张修状;郑敏祺 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 集成电路设计 方法 | ||
1.一种用于集成电路设计的方法,其特征在于,包含:
接收一空间相关性矩阵,其中该空间相关性矩阵中的各元素为不同坐标的一组后制造集成电路元件的多个特性值之间的一空间相关性;
从该空间相关性矩阵中导出一随机数产生函数,其中该随机数产生函数具有一坐标相关因数及一坐标独立因数;
接收一集成电路设计布局,该集成电路设计布局具有一组预制造集成电路元件,所述预制造集成电路元件各者具有一坐标及一第一特性值;
对于所述预制造集成电路元件,使用各所述预制造集成电路元件的该坐标及该随机数产生函数产生一随机数;
对于所述预制造集成电路元件,将该随机数应用至该第一特性值并导出一第二特性值;
在具有所述预制造集成电路元件的该第二特性值的所述预制造集成电路元件上运行一模拟;以及
基于该模拟的一结果修改该集成电路设计布局,
其中以下操作的至少一者是由一计算机进行:
导出该随机数产生函数;
产生该随机数;
导出该第二特性值;以及
运行该模拟。
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