[发明专利]轨道交通电子单板加速寿命试验方法

说明书

技术领域

本发明主要涉及轨道交通技术领域，特指一种轨道交通电子单板加速寿命试验方法。

背景技术

轨道交通电子单板加速寿命试验是在失效机理不变的基础上，通过寻找产品寿命与应力之间的关系，即加速模型，利用产品在高加速应力下的寿命特征去外推或评估正常应力水平下的寿命特征的试验技术和方法。轨道交通电子单板加速寿命试验设计依据该电子单板的可靠性强化分析结果。确定振动、温度、湿度以及综合的工作极限范围，在此限定设计应力剖面组合，对电子单板进行加速寿命试验，建立电子单板的多应力加速寿命或退化寿命试验模型，分析电子单板在正常应力下的可靠性和寿命水平。目前轨道交通电子单板寿命试验是一种传统现场数据统计，所经历的时间周期非常长，而且时效性差，效率低以及费用大。

发明内容

本发明要解决的技术问题就在于：针对现有技术存在的技术问题，本发明提供一种操作简便、快速有效的轨道交通电子单板加速寿命试验方法。

为解决上述技术问题，本发明提出的技术方案为：

一种轨道交通电子单板加速寿命试验方法，步骤为：

S01、首先通过寿命实验得到电子单板在不同加速退化应力条件下的寿命数据；

S02、依据不同加速退化应力下电子单板的寿命数据和退化轨迹，得到寿命加速模型；

S03、依据寿命加速模型，评估电子单板在正常工作环境下的使用寿命均值。

优选地，在步骤S02中，不同加速退化应力下电子单板的退化轨迹方程为其中为退化轨迹模型参数，所述退化轨迹模型为其中q＝1,2,3,4，i＝1,2,3,4,5,6,7；为模型参数；在退化轨迹模型基础上，使用最小二乘法，估计输出电压在所有加速退化应力水平下的各个电子单板样本的退化轨迹模型参数

优选地，在步骤S02中，所述寿命加速模型为其中t为试验时间，T为高温应力，RH为湿度应力，V为振动应力，m为形状常数，α₀、α₁、α₂、α₃为常识参数。

优选地，在步骤S03中，首先依据寿命加速模型，评估在正常工作振动V、温度T、湿度RH下，可靠度为R的对数寿命估计为其中R为可靠度；然后得到电子单板在正常工作环境下、不同置信度和可靠度下的寿命均值。

优选地，在步骤S01中，寿命试验的不同加速退化应力包括振动、温度、湿度中的一种或者任意组合。

优选地，在步骤S01中，寿命试验的样本量确定方法如下：在电子单板寿命试验中，各个加速退化应力下的样本量n与可靠度R及置信度γ关系为：

优选地，对寿命加速模型中的参数α₀、α₁、α₂、α₃及形状参数m采用整体极大似然估计得到参数估计值及协方差矩阵Σ。

优选地，整体极大似然函数为：

式中，t_ij为加速退化应力水平S_i(i＝1,2,3,4)下第j(j＝1,2,...,q_i,...,7)块电子单板的寿命值，对参数α₀,α₁,α₂,α₃,m的协方差矩阵Σ如下：

与现有技术相比，本发明的优点在于：

本发明的轨道交通电子单板加速寿命试验方法，通过寿命实验得到电子单板在不同加速退化应力条件下的寿命数据，并依据不同加速退化应力下电子单板的寿命数据和退化轨迹，得到寿命加速模型，再依据寿命加速模型，评估电子单板在正常工作环境下的使用寿命均值；操作简便，能够快速有效评估出轨道交通电子单板的寿命。

附图说明

图1为本发明的方法流程图。

图2为发明中各加速退化应力条件下的试验剖面图。

图3为本发明中的电子单板寿命威尔分布校验图。

具体实施方式

以下结合说明书附图和具体实施例对本发明作进一步描述。

如图1至图3所示，本实施例的轨道交通电子单板加速寿命试验方法，步骤为：

S01、首先通过寿命实验得到电子单板在不同加速退化应力条件下的寿命数据；

S02、依据不同加速退化应力下电子单板的寿命数据和退化轨迹，得到寿命加速模型；

S03、依据寿命加速模型，评估电子单板在正常工作环境下的使用寿命均值。