[发明专利]鳍式场效应管及其形成方法有效
申请号: | 201710069219.0 | 申请日: | 2017-02-08 |
公开(公告)号: | CN108400158B | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
发明(设计)人: | 周飞 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L21/336;H01L29/78 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 高静;吴敏 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 场效应 及其 形成 方法 | ||
1.一种鳍式场效应管的形成方法,其特征在于,包括:
提供衬底,衬底上具有多个鳍部,所述多个鳍部呈阵列排布;
在所述鳍部之间形成隔离层,沿鳍部延伸方向鳍部之间的隔离层为第一隔离层,沿垂直鳍部延伸方向鳍部之间的隔离层为第二隔离层;
去除部分厚度的第一隔离层;
在剩余第一隔离层上形成隔离结构;
形成所述隔离结构之后,对所述鳍部进行离子注入,在所述鳍部中形成阱;
减薄所述隔离结构和隔离层。
2.如权利要求1所述的鳍式场效应管的形成方法,其特征在于,在所述鳍部之间形成隔离层的步骤之后,去除部分厚度的第一隔离层的步骤之前,所述形成方法还包括:在所述鳍部和所述隔离层上形成初始图形层,所述初始图形层具有图形开口,所述图形开口露出部分鳍部之间的第一隔离层;
去除部分厚度的第一隔离层的步骤包括:以所述初始图形层为掩膜去除部分厚度的第一隔离层,剩余第一隔离层与所述初始图形层围成开口;
形成隔离结构的步骤包括:在所述开口中形成隔离结构。
3.如权利要求2所述的鳍式场效应管的形成方法,其特征在于,在所述开口中形成所述隔离结构的步骤包括:
在所述开口中填充隔离材料层,所述隔离材料层顶部高于所述初始图形层顶部;
采用退火工艺处理所述隔离材料层;
平坦化所述隔离材料层,形成所述隔离结构,所述隔离结构顶部与所述初始图形层顶部齐平。
4.如权利要求3所述的鳍式场效应管的形成方法,其特征在于,填充所述隔离材料层的工艺为高宽深比化学气相沉积。
5.如权利要求4所述的鳍式场效应管的形成方法,其特征在于,所述高宽深比化学气相沉积的工艺参数包括:在温度为30摄氏度至90摄氏度下,通入NH3和O2,通入气体的流量为20sccm至10000sccm,压强为0.01torr至100torr。
6.如权利要求3所述的鳍式场效应管的形成方法,其特征在于,所述退火工艺的参数包括:温度为800摄氏度至1100摄氏度;退火时间为5分钟至100分钟。
7.如权利要求2所述的鳍式场效应管的形成方法,其特征在于,在剩余第一隔离层上形成隔离结构的步骤之后,对所述鳍部进行离子注入,在所述鳍部中形成阱的步骤之前,所述形成方法还包括:去除部分厚度的初始图形层,使剩余初始图形层顶部低于所述隔离结构顶部,形成图形层;
形成阱的步骤包括:对所述图形层下方的鳍部进行离子注入,在所述鳍部中形成阱。
8.如权利要求7所述的鳍式场效应管的形成方法,其特征在于,所述图形层的厚度在100埃至400埃的范围内。
9.如权利要求7所述的鳍式场效应管的形成方法,其特征在于,所述图形层的材料为氮化硅。
10.如权利要求1所述的鳍式场效应管的形成方法,其特征在于,所述形成阱的步骤包括:对所述鳍部进行离子注入;对离子注入后的所述鳍部进行退火处理。
11.如权利要求10所述的鳍式场效应管的形成方法,其特征在于,所述退火处理的步骤中,退火温度为950摄氏度至1050摄氏度,时间为5s至30s。
12.如权利要求1所述的鳍式场效应管的形成方法,其特征在于,对所述鳍部进行离子注入的步骤包括:所述注入离子为磷离子,所述磷离子注入能量为100kev至250kev,注入剂量为1.0E13atom/cm2至4.0E14atom/cm2;
或者,所述注入离子为硼离子,所述硼离子注入能量为30kev至100kev,注入剂量为1.0E13atom/cm2至4.0E14atom/cm2。
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