[发明专利]图像拍摄装置及其控制方法有效

专利信息
申请号: 201680064999.3 申请日: 2016-03-17
公开(公告)号: CN108353158B 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 郑珍久;韩熙喆;田承龙 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H04N13/204 分类号: H04N13/204;H04N13/106
代理公司: 北京市立方律师事务所 11330 代理人: 李娜
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 图像 拍摄 装置 及其 控制 方法
【说明书】:

提供了图像拍摄装置和用于控制图像拍摄装置的方法。该方法包括:输出光以便穿透投射物并落在被摄体上,接收从所述被摄体反射的第一反射光,基于所述第一反射光的信息获得第一图像,使用预定信息控制所述投射物以产生受控投射物,接收利用所述受控投射物的第二反射光,基于所述第二反射光的信息获得第二图像以及使用所获得的第一图像和第二图像产生深度图。

技术领域

本公开总体涉及图像拍摄装置及其控制方法,例如,涉及通过获得用于产生深度图的多个图像而产生高分辨率深度图的图像拍摄装置及其控制方法。

背景技术

近来,已经开发了使用图像拍摄装置获得三维(3D)图像的方法。为了获得3D图像,深度图是必要的。深度图指表示空间距离和二维(2D)图像中的一个点与另一个点之间的距离的信息。

为了获得深度图,通常使用飞行时间(TOF)方法和结构光(SL)方法。TOF方法使用输出的光在从被摄体反射后输入所需的时间。SL方法使用光图案,其中输出以便穿透投射物的光从被摄体反射并输入。

基于关于输入的反射光的信息,以通过SW算法执行补偿的方式产生深度图。通常,深度图的分辨率根据TOF方法中的光源的精确度来确定,并且根据SL方法中的投射物的形状来确定。光源的精确度或投射物的形状涉及物理限制,因此导致低分辨率图像的不便。

因此,越来越需要产生克服物理限制的高分辨率深度图的方法。

发明内容

技术问题

提供本公开以解决在相关技术中出现的前述和其他问题以及缺点,并且本公开的一方面提供一种图像拍摄装置及其控制方法,该图像拍摄装置使用通过控制投射物的形状获得的多个图像来产生高分辨率深度图。

技术方案

根据本公开的示例实施例,提供一种用于控制图像拍摄装置的方法。该方法包括输出光以便穿透投射物、接收从被摄体(object)反射的第一反射光、基于第一反射光的信息获得第一图像、使用预定信息控制投射物以产生受控投射物、使用受控投射物接收第二反射光、基于第二反射光的信息获得第二图像以及使用所获得的第一图像和第二图像来产生深度图。

投射物可以由其形状可以根据电信号而改变的材料形成。另外,控制投射物可以包括通过调整在投射物上流动的电信号的强度来控制投射物的形状。

控制投射物可以包括将投射物分割成多个区域并使用不同的电信号控制多个区域中的每一个。

控制投射物可以包括随着光输入单元的分辨率增加而精密地控制投射物的变化。

获得第一图像可以包括通过将关于第一反射光的信息与投射物的位置、图案和尺寸进行比较来获得第一图像。另外,获得第二图像可以包括通过将关于第二反射光的信息与受控投射物的位置、图案和尺寸进行比较来获得第二图像。

控制投射物可以包括控制投射物以与用于控制投射物的命令相对应。

第一反射光的信息可以包括第一反射光的图案、第一反射光的反射位置、第一反射光在被被摄体反射后输入所需的时间中的一个或更多个。

控制投射物可以包括移动投射物的位置。

投射物可以包括多个狭缝。此外,控制投射物可以包括通过调整多个狭缝的厚度和用于控制输出光落入多个狭缝的入射角度的投射物的角度中的一个或多个来控制投射物。

光可以是红外(IR)光。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201680064999.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top