[发明专利]一种直径可调铋纳米线阵列的制备方法有效

专利信息
申请号: 201611216995.0 申请日: 2016-12-26
公开(公告)号: CN106711254B 公开(公告)日: 2018-04-06
发明(设计)人: 金立川;方觉;张怀武;肖勇;洪彩云;唐晓莉;钟智勇 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L31/0352 分类号: H01L31/0352;H01L31/0264;H01L31/18
代理公司: 电子科技大学专利中心51203 代理人: 吴姗霖
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 直径 可调 纳米 阵列 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于材料技术领域,具体涉及一种直径可调铋纳米线阵列的制备方法。

背景技术

纳米线是一种直径大小为纳米数量级的纳米结构,也可以指高长宽比(1000以上)的纳米结构,或者定义为长度没有限制、直径限制在几十纳米以内的结构。在纳米尺度下,量子效应比较明显,具有不同于块状或三维材料的独特性质,使其受到了人们的广泛关注。

铋(Bi)纳米线因为其特有的布里渊区各向异性电子能带,其量子限制效应可以通过纳米线的直径来高效调节,从而实现半金属到半导体的转换,这对获得高的热电转换效率具有重要的价值。因此,调控Bi纳米线的直径就成了一个关键的技术问题。然而,现有的Bi纳米线制备技术,主要有多孔氧化铝模板法、采用Bi薄膜的自生长法、电子束刻蚀法等,均需要借助外界模板获得不同直径的Bi纳米线,价格昂贵,生长工艺复杂。

发明内容

本发明针对背景技术存在的缺陷,提出了一种简单易行的直径可调铋纳米线阵列的制备方法。本发明方法可实现在半导体衬底上制备大面积的直径在20~300nm范围可调的铋纳米线阵列,且得到的铋纳米线阵列在250~800nm光波长范围的吸收率大于80%,在高效光电转换器件和光电探测器领域具有重要的应用价值;并且本发明提供的直径可调铋纳米线阵列的制备方法简单易行,能够与半导体工艺兼容。

本发明的技术方案如下:

一种直径可调的铋纳米线阵列,如图2所示,自下而上依次为半导体基片、铋纳米线阵列、锡纳米液滴,所述锡纳米液滴位于铋纳米线顶端;所述铋纳米线阵列的直径通过锡纳米液滴的大小进行调节,长度通过生长时间调节。

进一步地,所述半导体基片为抛光单晶基片,具体为硅或锗等,其表面粗糙度低于0.5nm。

一种直径可调的铋纳米线阵列的制备方法,如图1所示,包括以下步骤:

步骤1、清洗半导体基片:将半导体基片依次在氢氟酸溶液、去离子水、丙酮中超声清洗,氮气吹干;

步骤2、通过分子束外延的方式在步骤1清洗干净的半导体基片上生长直径可调的铋纳米线阵列:

2-1.将半导体基片装入分子束外延腔室,抽真空至10-10Torr以下;

2-2.将锡源以每分钟7℃的速度升温至1000~1100℃,铋源以每分钟3℃的速度升温至450~500℃,半导体基片以每分钟5℃的速度升温至300~350℃;

2-3.打开锡源,同时基片以0.2~2转/秒的速度匀速旋转,以保证锡纳米液滴的均匀性;

2-4. 5~30min后关闭锡源,即可得到直径从20~300nm可调的锡纳米液滴,然后打开铋源,基片仍然以0.2~2转/秒的速度匀速旋转,通过锡纳米液滴诱导生长铋纳米线阵列;

2-5. 120~240min后关闭铋源,然后将半导体基片、锡源和铋源以每分钟7℃的速度降温至常温,即可得到本发明所述直径可调的铋纳米线阵列。

进一步地,步骤2所述锡源为纯度不低于99.99wt%的锡,所述铋源为纯度不低于99.99wt%的铋。

本发明还提供了上述直径可调的铋纳米线阵列在高灵敏度光电探测器以及太阳能电池中的应用。

本发明制备铋纳米线阵列的原理为:在较高的基片温度下,利用锡的熔点低的物性,在半导体基片表面形成直径在纳米量级的金属锡液滴,作为后续铋纳米线生长的催化剂;然后在这些纳米液滴的基础上沿着垂直基片方向生长铋,形成铋纳米线阵列。铋纳米线阵列的直径可通过锡纳米液滴的大小进行调节,长度通过生长时间调节,生长过程中无需借助外界模板,工艺简单,且锡成本较低,易于实现大面积制备生产。

本发明的有益效果为:

本发明采用超高真空(小于10-10Torr)分子束外延技术,利用纳米级尺寸的锡液滴作为催化剂,在半导体基片上生长直径可调的铋纳米线阵列,具有制备方法简单、铋纳米线直径可在20~300nm范围调节、能够大面积生长的优点,且该方法制备的铋纳米线阵列在250~800nm波长范围的光学吸收率大于80%,在超薄光电探测器、太阳能电池等领域有着广泛的应用前景。

附图说明

图1为本发明实施例直径可调的铋纳米线阵列的制备方法流程示意图;

图2为本发明直径可调的铋纳米线阵列的生长示意图;

图3为本发明实施例得到的直径可调的铋纳米线阵列的原子力显微镜测试结果;

图4为本发明实施例得到的直径可调的铋纳米线阵列的光学吸收率测试结果。

具体实施方式

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