[发明专利]掺杂ZrO2及制备方法、QLED器件及制备方法有效
申请号: | 201611182817.0 | 申请日: | 2016-12-20 |
公开(公告)号: | CN106698510B | 公开(公告)日: | 2019-11-12 |
发明(设计)人: | 王宇;曹蔚然;杨一行;钱磊 | 申请(专利权)人: | TCL集团股份有限公司 |
主分类号: | C01G25/02 | 分类号: | C01G25/02;H01L51/56;H01L51/50 |
代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 | 代理人: | 王永文;刘文求 |
地址: | 516006 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 掺杂 zro2 制备 方法 qled 器件 | ||
1.一种掺杂ZrO2的制备方法,其特征在于,包括步骤:
在锆盐的水溶液中,加入锌源和/或锡源,然后再加入氮源,并加入碱性溶液,使反应体系pH=7.5-9;然后将反应体系在150-230℃下反应5-24h;最后将反应后的溶液进行离心分离,并洗涤后,干燥得到掺杂ZrO2。
2.根据权利要求1所述的掺杂ZrO2的制备方法,其特征在于,所述锆盐为氯化锆,锌源为氯化锌,锡源为氯化锡。
3.根据权利要求1所述的掺杂ZrO2的制备方法,其特征在于,所述氮源为氯化铵。
4.根据权利要求1所述的掺杂ZrO2的制备方法,其特征在于,所述碱性溶液为四甲基氢氧化铵溶液、氨水、氢氧化钠溶液、氢氧化钾溶液中的一种。
5.根据权利要求1所述的掺杂ZrO2的制备方法,其特征在于,按元素摩尔比计,所述N:(Zn和/或Sn):Zr=x:(0.2-x):0.8,其中0.01<x<0.05。
6.一种掺杂ZrO2,其特征在于,采用如权利要求1~5任一所述的掺杂ZrO2的制备方法制备而成,所述掺杂ZrO2为氮锌、氮锡或氮锌锡掺杂的ZrO2。
7.一种QLED器件的制备方法,其特征在于,包括:
步骤A、在含有底电极的衬底上依次制备空穴注入层和空穴传输层;
步骤B、在空穴传输层上制备量子点发光层;
步骤C、在量子点发光层上制备ZrO2层;其中所述步骤C具体为:将如权利要求6所述的掺杂ZrO2溶于溶剂中,得到ZrO2溶液;然后在量子点发光层上旋涂所述ZrO2溶液,制成ZrO2层;
步骤D、在ZrO2层上制备顶电极,然后进行封装,得到QLED器件。
8.一种QLED器件,其特征在于,所述QLED器件采用如权利要求7所述的QLED器件的制备方法制备而成;
所述QLED器件自下而上依次包括衬底、底电极、空穴注入层、空穴传输层、量子点发光层、ZrO2层和顶电极。
9.一种QLED器件的制备方法,其特征在于,包括:
步骤R、在含有底电极的衬底上制备ZrO2层;其中所述步骤R具体为:将如权利要求6所述的掺杂ZrO2溶于溶剂中,得到ZrO2溶液;然后在含有底电极的衬底上旋涂所述ZrO2溶液,制成ZrO2层;
步骤S、在ZrO2层上制备量子点发光层,然后在量子点发光层上制备空穴传输层;
步骤T、在空穴传输层上制备顶电极,然后进行封装,得到QLED器件。
10.一种QLED器件,其特征在于,所述QLED器件采用如权利要求9所述的QLED器件的制备方法制备而成;所述QLED器件自下而上依次包括衬底、底电极、ZrO2层、量子点发光层、空穴传输层和顶电极。
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