[发明专利]二硼化锆-碳化硅复合材料氧化层非线性演变计算方法有效

专利信息
申请号: 201611163068.7 申请日: 2016-12-15
公开(公告)号: CN106871826B 公开(公告)日: 2019-07-12
发明(设计)人: 罗晓光;邓代英;张赢;俞继军;陈思员;艾邦成 申请(专利权)人: 中国航天空气动力技术研究院
主分类号: G01B15/02 分类号: G01B15/02;G01B11/06
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 庞静
地址: 100074 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 二硼化锆 碳化硅 复合材料 氧化 非线性 演变 计算方法
【权利要求书】:

1.二硼化锆-碳化硅复合材料氧化层非线性演变计算方法,其特征在于包括以下步骤:

(1)对二硼化锆-碳化硅复合材料实验样品进行不少于3个保温时间段的等温氧化实验;对实验后的每个氧化后的实验样本分别进行步骤(2)-(4)的处理:

(2)将待实验样品冷却至室温后加工获得氧化后实验样品的剖面或者截面结构,干燥保存并防止氧化层发生脱落;

(3)确定实验样品剖面或者截面的氧化层分层结构,若为2层结构,则为表面玻璃相层和次表面氧化物;若为3层结构,则为表面玻璃相层、次表面氧化层和碳化硅主动氧化耗尽多孔层;

(4)将经步骤(2)获得的样品放置扫描电子显微镜或者高分辨率光学显微镜下观察,依据步骤(3)确定氧化层的结构类型,测量各氧化分层的厚度;

(5)根据氧化层结构的不同分别建立氧化层厚度随时间演变的微分方程组;

(6)确定微分方程组的初始条件和特征参数初值,求解微分方程组,获得氧化层厚度的理论计算值;所述的特征参数包括氧化层i的动力学控制氧化层增长参数Ki、扩散控制氧化层增长参数hi、氧化层非线性增长函数Ai中的未知参数;i=1、2或1、2、3;i=1代表表面氧化层,i=2代表次表面氧化层,i=3代表碳化硅主动氧化耗尽多孔层;

(7)通过改变特征参数值,迭代计算各层氧化层厚度的理论值,迭代计算直至所有实验氧化层厚度与计算氧化层厚度的偏差绝对值均小于指定精度,据此确定满足精度要求的方程组特征参数;

(8)固定微分方程组特征参数,求解不同温度、任意氧化时间下氧化层厚度定量演变规律。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:2层结构氧化层厚度随时间演变的微分方程组具体形式为:

其中,T为温度,t为时间,L1(T,t)为表面氧化层理论厚度,L2(T,t)为次表面氧化层理论厚度。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:3层结构氧化层厚度随时间演变的微分方程组具体形式为:

其中,T为温度,t为时间,L1(T,t)为表面氧化层理论厚度,L2(T,t)为次表面氧化层理论厚度,L3(T,t)为碳化硅主动氧化耗尽多孔层理论厚度。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述的Ai为氧化层增长的非线性描述函数,具体形式包括氧化时间的幂函数、指数函数和多项式函数,同一微分方程组的不同方程之间既可以选择相同也可以选择不同的非线性函数形式。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:迭代计算直至所有实验氧化层厚度与计算氧化层厚度Li(T,t)的偏差绝对值均小于指定精度,具体实施是可用以下公式判别:

其中,error为设定的迭代计算精度。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:实验样品加工成圆片或者方片形状,采用马弗炉或者热重分析仪等温氧化。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:氧化后实验样品在扫描电子显微镜测量前经表面喷金处理。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国航天空气动力技术研究院,未经中国航天空气动力技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611163068.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top