[发明专利]非易失性存储器系统的操作方法有效
申请号: | 201611152031.4 | 申请日: | 2016-12-14 |
公开(公告)号: | CN107039082B | 公开(公告)日: | 2022-03-08 |
发明(设计)人: | 朴永昊 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11C16/34 | 分类号: | G11C16/34;G06F12/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邵亚丽 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 非易失性存储器 系统 操作方法 | ||
1.一种非易失性存储器系统的操作方法,所述方法包括:
选择多个存储器块中的源块;
基于至少一个参考电压,相对于所选择的源块执行单元计数;以及
基于单元计数结果,对所述源块执行回收操作,
其中,执行所述回收操作包括:
当所述单元计数结果大于参考值时,在第一回收执行时段期间执行所述回收操作;以及
当所述单元计数结果不大于所述参考值时,在不同于所述第一回收执行时段的第二回收执行时段期间执行所述回收操作,并且
其中,所述第一回收执行时段和所述第二回收执行时段中的每一者都表明从选择所述源块时的时间点到完成所述回收操作时的时间点的读取计数间隔。
2.如权利要求1所述的方法,其中,所述读取计数间隔是读取计数的间隔,并且所述读取计数表明对所述存储器块的读取操作的数量。
3.如权利要求1所述的方法,其中,所述读取计数间隔是读取计数的间隔,并且所述读取计数表明对所述源块的读取操作的数量。
4.如权利要求1所述的方法,其中,至少一个参考电压被包含在多个存储器单元的擦除状态的阈值电压分布范围中,
其中,所述单元计数结果表明基于所述至少一个参考电压确定的、来自所述源块的存储器单元中的接通单元的数量,并且
其中,所述第一回收执行时段大于所述第二回收执行时段。
5.如权利要求1所述的方法,其中,至少一个参考电压被包含在多个存储器单元的大多数编程状态的阈值电压分布范围中,
其中,所述单元计数结果表明基于所述至少一个参考电压确定的、来自所述源块的存储器单元中的断开单元的数量,并且
其中,所述第一回收执行时段小于所述第二回收执行时段。
6.如权利要求1所述的方法,其中,所述回收操作包括多个子操作,并且
其中,执行所述回收操作包括:
当所述单元计数结果大于参考值时,基于第一子操作单位来执行每个子操作;以及
当所述单元计数结果不大于参考值时,基于不同于所述第一子操作单位的第二子操作单位来执行每个子操作。
7.如权利要求6所述的方法,其中,第一子操作单位和第二子操作单元中的每一个表明子操作的数据处理单位。
8.如权利要求1所述的方法,其中,选择所述源块包括:
从多个存储器块的存储器块读取数据;
检测读取的数据的错误;以及
当检测的错误的数量大于参考值时,选择所述存储器块作为所述源块。
9.如权利要求1所述的方法,其中,每个存储器块包括三维存储器阵列。
10.一种非易失性存储器系统的操作方法,所述方法包括:
选择多个存储器块中的源块;
基于至少一个参考电压,相对于所选择的源块执行单元计数;以及
基于单元计数结果,对所述源块执行回收操作,
其中,所述回收操作包括多个子操作,并且
其中,执行所述回收操作包括:
当所述单元计数结果大于参考值时,在第一回收执行时段期间在每个第一读取计数依次执行子操作;以及
当所述单元计数结果不大于所述参考值时,在每个不同于所述第一读取计数的第二读取计数依次执行子操作。
11.如权利要求10所述的方法,其中,每个子操作包括如下各项中的至少一者:
从所述源块读取至少一个页面数据;
纠正读取的页面数据的错误;以及
将纠正了所述错误的所述页面数据编程在目的地块中。
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