[发明专利]基于双面键合工艺的微色谱柱及其制备方法在审
申请号: | 201611124553.3 | 申请日: | 2016-12-08 |
公开(公告)号: | CN108181413A | 公开(公告)日: | 2018-06-19 |
发明(设计)人: | 冯飞;李昕欣 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | G01N30/60 | 分类号: | G01N30/60;B81C3/00 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 罗泳文 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 色谱柱 双面键合 硅片 制备 双色谱柱 正反两面 芯片 微沟道 刻蚀 检测器 微电子机械系统 微型气相色谱仪 硅玻璃键合 玻璃 便于安装 玻璃结构 节省材料 色谱分析 阳极键合 玻璃片 硅玻璃 硅结构 微热 应用 | ||
1.一种微色谱柱,其特征在于:包括:
一硅衬底,所述硅衬底的正面及反面均形成有微色谱柱所需的微沟道;
两键合片,分别键合于所述硅衬底的正面及反面,形成同一个硅衬底正面及反面上的两个微色谱柱。
2.根据权利要求1所述的微色谱柱,其特征在于:所述键合片为玻璃片,所述玻璃片与所述硅衬底为阳极键合。
3.根据权利要求1所述的微色谱柱,其特征在于:所述微沟道内还形成有多个沟道单元或/及微柱阵列。
4.一种微色谱柱,其特征在于:包括:
一键合片;
两硅衬底,所述两硅衬底表面均形成有微色谱柱所需的微沟道,且分别键合于所述键合片的正面及反面,形成同一个键合片正面及反面上的两个微色谱柱。
5.根据权利要求4所述的微色谱柱,其特征在于:所述键合片为玻璃片,所述玻璃片与所述硅衬底为阳极键合。
6.根据权利要求4所述的微色谱柱,其特征在于:所述微沟道内还形成有多个沟道单元或/及微柱阵列。
7.一种基于双面键合工艺的微色谱柱的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括步骤:
步骤1),提供一硅衬底,于所述硅衬底的正面及反面刻蚀出微色谱柱所需的微沟道;
步骤2),提供两键合片,将所述键合片分别键合于所述硅衬底的正面及反面,获得位于同一个硅衬底正面及反面上的两个微色谱柱。
8.根据权利要求7所述的基于双面键合工艺的微色谱柱的制备方法,其特征在于:
步骤1)中,以氧化硅及光刻胶的一种或组合为掩膜,采用深反应离子刻蚀工艺分别刻蚀所述硅衬底的正面及反两面,形成微色谱柱所需的高深宽比的微沟道,并去除所述掩膜。
9.根据权利要求7所述的基于双面键合工艺的微色谱柱的制备方法,其特征在于:
步骤1)中,所述微沟道内还形成有多个沟道单元或/及微柱阵列。
10.根据权利要求7所述的基于双面键合工艺的微色谱柱的制备方法,其特征在于:步骤2)中,所述键合片选用为玻璃片,以最终获得玻璃-硅-玻璃结构的双色谱柱芯片。
11.根据权利要求10所述的基于双面键合工艺的微色谱柱的制备方法,其特征在于:步骤2)中,将第一玻璃片置于键合机的阴极,硅衬底置于键合机的阳极进行第一次硅玻璃阳极键合;将第一玻璃片及硅衬底置于键合机的阳极,其中,硅衬底朝阴极,第二玻璃片置于阴极,进行第二次硅玻璃阳极键合,键合完成后划片获得具有两个微色谱柱的芯片。
12.一种基于双面键合工艺的微色谱柱的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括步骤:
步骤1),提供两硅衬底,于两硅衬底上分别刻蚀出微色谱柱所需的微沟道;
步骤2),提供一键合片,将所述两硅衬底分别键合于所述键合片的正面及反面,获得位于同一个键合片正面及反面上的两个微色谱柱。
13.根据权利要求12所述的基于双面键合工艺的微色谱柱的制备方法,其特征在于:
步骤1)中,以氧化硅及光刻胶的一种或组合为掩模,深反应离子刻蚀工艺分别于两硅衬底上刻蚀出微色谱柱所需的高深宽比的微沟道,并去除所述掩膜。
14.根据权利要求12所述的基于双面键合工艺的微色谱柱的制备方法,其特征在于:
步骤1)中,所述微沟道内还形成有多个沟道单元或/及微柱阵列。
15.根据权利要求12所述的基于双面键合工艺的微色谱柱的制备方法,其特征在于:
步骤2)中,所述键合片选用为玻璃片,以最终获得硅-玻璃-硅结构的双色谱柱芯片。
16.根据权利要求15所述的基于双面键合工艺的微色谱柱的制备方法,其特征在于:
步骤2)中,将玻璃片置于键合机的阴极,具有微色谱柱的第一硅衬底置于键合机的阳极进行第一次硅玻璃阳极键合;将第一硅衬底及玻璃键合片置于键合机的阴极,其中玻璃朝阳极,具有微色谱柱的第二硅衬底为阳极,进行第二次硅玻璃阳极键合,键合完成后划片获得具有两个微色谱柱的芯片。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海微系统与信息技术研究所,未经中国科学院上海微系统与信息技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611124553.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。