[发明专利]电子部件的特性测定装置

说明书

本发明提供一种电子部件的特性测定装置。在将多个电子部件(24)一个一个地容纳于被设置在支架(25)的多个容纳腔室(26)的状态下，使测定端子(31，32)与外部端子电极(22，23)接触而对电子部件(24)的特性进行测定的装置中，在支架(25)的第一开口端(29)侧的面上设置突起(34)。突起(34)在测定端子(31)位于排列方向上相邻的容纳腔室(26)之间时使该第一测定端子避开容纳腔室(26)内的电子部件(24)。

技术领域

本发明涉及电子部件的特性测定装置，尤其涉及针对用于保持电特性被测定的电子部件的支架侧的构成和与电子部件的外部端子电极接触的测定端子侧的构成的尺寸关系的改良。

背景技术

作为对于本发明而言感兴趣的现有的电子部件的特性测定装置，有JP特表2005-514605号公报所记载的装置。若参照图8进行说明的话，则JP特表2005-514605号公报所述的特性测定装置1用于对在相互对置的第一端部及第二端部分别形成了第一外部端子电极2及第二外部端子电极3的芯片状的电子部件4的特性进行测定。另外，图8中示出的构成为了使与本发明涉及的特性测定装置的对比变得容易而将JP特表2005-514605号公报中被图示的构成进行了简化。

特性测定装置1具备支架8，其具有用于容纳电子部件4的容纳腔室5，且在第一外部端子电极2及第二外部端子电极3分别朝向容纳腔室5的相互对置的第一开口端6及第二开口端7侧的状态下保持电子部件4。

再有，特性测定装置1具备在容纳腔室5的第一开口端6及第二开口端7附近的各位置中被配置为与电子部件4的第一外部端子电极2及第二外部端子电极3分别接触的第一测定端子9及第二测定端子10。第一测定端子9是辊状的，能旋转地由轴承座11保持。轴承座11相对于固定部(未图示。)，经由板簧12来保持，由此第一测定端子9与第一外部端子电极2弹性地接触。第二测定端子10被埋入固定性地设置的基座13内。第二测定端子10位于第一测定端子9的正下。

支架8是圆板状的，此处，多个容纳腔室5排列成沿圆周方向分布，电子部件4一个一个地被容纳于各容纳腔室5内。因此，只要理解为在图8中图示支架8的一部分即可。

圆板状的支架8旋转。在通过该该支架8的旋转而被移动的容纳腔室5的路径上的给定位置，电子部件4嵌入容纳腔室5内，接下来，被容纳在容纳腔室5内的电子部件4向第一测定端子9及第二测定端子10之间的位置移动，第一测定端子9及第二测定端子10分别接触于第一外部端子电极2及第二外部端子电极3，由此可测定电子部件4的电特性。然后，电子部件4被从容纳腔室5取出。此时，根据所测定的电特性，例如根据电特性的良否来甄选电子部件4。

上述的特性测定装置1中，为了有效地进行多个电子部件4的特性测定，优选将被相邻容纳的电子部件4相互间的间隔缩窄。然而，若过于缩窄多个电子部件4的间隔，则如图9所示，被招致辊状的第一测定端子9同时接触于2个电子部件4各自的第一外部端子电极2的状况(以下有时称为“2个接触”。)。另外，在图9中，省略能旋转地支承第一测定端子9的轴承座11及板簧12的图示。

例如，在电子部件4为层叠陶瓷电容器的情况下，能通过特性测定装置1来测定层叠陶瓷电容器的绝缘电阻。绝缘电阻的测定的过程中，层叠陶瓷电容器被设为充电状态。然而，如上所述，若第一测定端子9同时接触于2个电子部件4各自的第一外部端子电极2，则被充电至一个电子部件4中的电荷经由第一测定端子9而向另一个电子部件4逃逸，因此会成为准确的特性测定的妨碍。

同样的问题未限于针对层叠陶瓷电容器测定绝缘电阻的情况，即便在针对其他电子部件测定其他电特性的情况下也会遭遇到。

发明内容

本发明的主要目的在于，提供一种能够有效地进行多个电子部件的特性测定的、电子部件的特性测定装置。

本发明面向对在相互对置的第一端部及第二端部分别形成了第一外部端子电极及第二外部端子电极的芯片状的电子部件的电特性进行测定的装置。