[发明专利]一种基于局部投影的ITO分割方法

权利要求书

1.一种基于局部投影的ITO分割方法，该方法包括以下步骤：

步骤1：采集液晶面板上IC区域的ITO图像；

步骤2：根据步骤1中的输入图像，利用大津法计算阈值；

步骤3：根据步骤2计算出来的阈值，对步骤1的输入图像进行二值化；

步骤4：根据步骤3的二值化图像计算单个ITO的宽度；

步骤5：根据步骤3的二值化图像计算相邻ITO的间隔距离；

步骤6：对步骤3的二值化图像进行纵向投影，并求纵向投影均值，得到ITO线路的纵向投影曲线；

步骤7：根据步骤6的投影均值，计算每列像素的特征值1，得到特征值1的曲线；

步骤8：根据步骤7的特征值1，求特征值里的局部极大值，该极大值位置就是ITO的左边缘位置；

步骤9：根据步骤6的投影均值，计算每列像素的特征值2；

步骤10：根据步骤9的特征值2，求特征值里的局部极小值，该极小值位置就是ITO的右边缘位置；

步骤11：输出被找到的所有ITO区域；

其特征在于所述步骤7具体通过以下过程实现：

每列像素的特征值1的计算公式为：

其中eig1(i)指第i列像素的特征值1，proj(j)是指步骤6中计算出来的第j列像素的投影均值，itowidth是指步骤4中计算的单个ITO的宽度。

2.如权利要求1所述的一种基于局部投影的ITO分割方法，其特征在于所述步骤9，具体通过以下过程实现：

每列像素的特征值2的计算公式为：

其中eig2(i)指第i列像素的特征值2，proj(j)是指步骤6中计算出来的第j列像素的投影均值，itospace是指步骤5中计算的相邻ITO的间隔距离。

3.如权利要求1所述的一种基于局部投影的ITO分割方法，其特征在于所述步骤11 ：具体通过以下过程实现：

对步骤8找到的所有ITO左边缘将和步骤10找到的所有ITO的右边缘进行依次配对，将步骤1中输入图像的上下位置作为所有ITO对应的上下位置，由以上四个位置则可以完全确定每个ITO的位置，输出每个ITO对应的位置。