[发明专利]一种阻抗衰减缓冲器及低压差线性稳压器有效
申请号: | 201610362694.2 | 申请日: | 2016-05-26 |
公开(公告)号: | CN106020306B | 公开(公告)日: | 2017-11-24 |
发明(设计)人: | 潘少辉;胡胜发 | 申请(专利权)人: | 安凯(广州)微电子技术有限公司 |
主分类号: | G05F1/56 | 分类号: | G05F1/56 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所44237 | 代理人: | 张全文 |
地址: | 510663 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 阻抗 衰减 缓冲器 低压 线性 稳压器 | ||
1.一种阻抗衰减缓冲器,所述阻抗衰减缓冲器连接在误差放大器和匹配管之间,所述误差放大器和所述匹配管之间还接有密勒电容Cc,其特征在于,所述阻抗衰减缓冲器包括补偿电容C0,所述补偿电容C0连接在所述阻抗衰减缓冲器的输入端和地之间,所述补偿电容C0与所述密勒电容Cc共同构成补偿电路以实现频率补偿;
所述阻抗衰减缓冲器还包括:PMOS管Q1、NMOS管Q2、PMOS管Q3、NMOS管Q4、PMOS管Q5和开关管;
所述NMOS管Q2的漏极、所述PMOS管Q1的漏极、所述PMOS管Q1的源极、所述PMOS管Q1的栅极、所述PMOS管Q3的源极、所述PMOS管Q5的栅极及所述PMOS管Q5的源极共接于电源,所述PMOS管Q3的栅极为所述阻抗衰减缓冲器的输入端,所述PMOS管Q3的源极与所述PMOS管Q5的漏极共接于所述开关管的高电位端,所述PMOS管Q3的漏极与所述NMOS管Q4的漏极共接于所述开关管的控制端,所述NMOS管Q4的源极、所述开关管的低电位端及所述NMOS管Q2的源极共接于地,所述NMOS管Q4的栅极与所述NMOS管Q2的栅极共接于所述NMOS管Q2的漏极。
2.如权利要求1所述的阻抗衰减缓冲器,其特征在于,所述开关管采用NMOS管Q6,所述NMOS管Q6的漏极为所述开关管的高电位端,所述NMOS管Q6的源极为所述开关管的低电位端,所述NMOS管Q6的栅极为所述开关管的控制端。
3.如权利要求1所述的阻抗衰减缓冲器,其特征在于,所述开关管采用NPN型三极管Q7,所述NPN型三极管Q7的集电极为所述开关管的高电位端,所述NPN型三极管Q7的发射极为所述开关管的低电位端,所述NPN型三极管Q7的基极为所述开关管的控制端。
4.一种低压差线性稳压器,所述低压差线性稳压器包括误差放大器、阻抗衰减缓冲器和匹配管,所述阻抗衰减缓冲器连接在所述误差放大器和所述匹配管之间,所述误差放大器和所述匹配管之间还接有密勒电容Cc,其特征在于,所述阻抗衰减缓冲器包括补偿电容C0,所述补偿电容C0连接在所述阻抗衰减缓冲器的输入端和地之间,所述补偿电容C0与所述密勒电容Cc共同构成补偿电路以实现频率补偿;
所述阻抗衰减缓冲器还包括:PMOS管Q1、NMOS管Q2、PMOS管Q3、NMOS管Q4、PMOS管Q5和开关管;
所述NMOS管Q2的漏极、所述PMOS管Q1的漏极、所述PMOS管Q1的源极、所述PMOS管Q1的栅极、所述PMOS管Q3的源极、所述PMOS管Q5的栅极及所述PMOS管Q5的源极共接于电源,所述PMOS管Q3的栅极为所述阻抗衰减缓冲器的输入端,所述PMOS管Q3的源极与所述PMOS管Q5的漏极共接于所述开关管的高电位端,所述PMOS管Q3的漏极与所述NMOS管Q4的漏极共接于所述开关管的控制端,所述NMOS管Q4的源极、所述开关管的低电位端及所述NMOS管Q2的源极共接于地,所述NMOS管Q4的栅极与所述NMOS管Q2的栅极共接于所述NMOS管Q2的漏极。
5.如权利要求4所述的低压差线性稳压器,其特征在于,所述开关管采用NMOS管Q6,所述NMOS管Q6的漏极为所述开关管的高电位端,所述NMOS管Q6的源极为所述开关管的低电位端,所述NMOS管Q6的栅极为所述开关管的控制端。
6.如权利要求4所述的低压差线性稳压器,其特征在于,所述开关管采用NPN型三极管Q7,所述NPN型三极管Q7的集电极为所述开关管的高电位端,所述NPN型三极管Q7的发射极为所述开关管的低电位端,所述NPN型三极管Q7的基极为所述开关管的控制端。
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