[发明专利]一种高发光效率氮化镓基LED外延片的制备方法有效

专利信息
申请号: 201610132461.3 申请日: 2016-03-09
公开(公告)号: CN105552182B 公开(公告)日: 2017-10-24
发明(设计)人: 卢太平;朱亚丹;许并社 申请(专利权)人: 太原理工大学
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L21/02;C30B29/40;C30B25/02;C30B33/02
代理公司: 太原科卫专利事务所(普通合伙)14100 代理人: 朱源
地址: 030024 *** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 一种 发光 效率 氮化 led 外延 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于光电子器件领域,具体涉及一种高发光效率氮化镓基LED外延片的制备方法。

背景技术

氮化镓基发光二极管(Light Emitting Diode,LED)具有高亮度、低能耗、长寿命、响应速度快及环保等特点,广泛地应用于室内及路灯照明、交通信号以及户外显示、汽车车灯照明、液晶背光源等多个领域。因此,大功率白光LED被认为是21世纪的照明光源。

为了获得高亮度的LED,关键要提高器件的内量子效率和外量子效率。目前蓝光GaN 基的LED内量子效率可达80%以上, 但大功率LED芯片的外量子效率通常只有40%左右。制约外量子效率提高的主要因素是芯片的光提取效率较低,这是因为 GaN 材料的折射率(n=2.5)与空气的折射率(n=1)和蓝宝石衬底的折射率(n=1.75)相差较大,导致空气与GaN界面以及蓝宝石与GaN界面发生全反射的临界角分别只有23.6°和44.4°,有源区产生的光只有少数能够逃逸出体材料。为了提高芯片的光提取效率,目前国内外采用的主要技术方案有生长分布布喇格反射层 (DBR) 结构、图形化衬底(PSS)技术、表面粗化技术和光子晶体技术等。PSS对图形的规则度要求很高,加之蓝宝石衬底比较坚硬,无论是干法刻蚀还是湿法刻蚀工艺,在整片图形的一致性和均匀性上都有一定的难度,且制作过程对设备和工艺要求很高,导致成本偏高。DBR和光子晶体制作工艺相对复杂、成本较高,而表面粗化技术采用干法刻蚀或者湿法腐蚀工艺,也存在很大挑战。

发明内容

本发明的目的在于针对现有技术中存在的上述缺陷,提供一种高发光效率氮化镓基LED外延片的制备方法,且该方法简单,制备成本较低。

本发明是采用如下的技术方案实现的:一种高发光效率氮化镓基LED外延片的制备方法,包括以下步骤:

步骤一:将蓝宝石衬底在反应腔氢气氛围中进行高温清洁衬底表面,温度为1060-1100℃,时间为5min-10min;

步骤二:将反应腔温度降低到520-550℃,然后在处理好的蓝宝石衬底上生长低温GaN成核层,成核层厚度为20-40nm;

步骤三:对低温GaN成核层进行退火,将反应腔温度升高到950-1050℃,并稳定2min,此过程中通入NH3气体,经过退火处理的GaN成核层由非晶层转变为GaN 3D岛状结构;

步骤四:通入金属有机源TMGa和NH3气体,在GaN 3D岛状结构上生长非故意掺杂的GaN 层,生长厚度为2~4um;

步骤五:将反应腔温度控制在1050-1100℃,关闭NH3气体和金属有机源TMGa,通入N2气体和H2气体,在反应腔压力为100-300Torr时用H2刻蚀15-30min,再在压力为500-700Torr时用H2刻蚀10-20min,刻蚀过程中H2流量为0.5-1.5slm,N2流量为1.5-3.5slm,得到镂空GaN结构;

步骤六:通入NH3气体和金属有机源TMGa,关闭H2气体,在H2处理后的镂空GaN结构上生长平坦化GaN层,厚度为1~2um,生长温度为1050-1200℃,生长压力为 50-300Torr;

步骤七:生长Si掺杂的GaN层,该层载流子浓度为 1018-1019cm-3,厚度为1-3um,生长温度为1050-1200℃,生长压力为 50-300Torr;

步骤八:生长 3-6个周期的多量子阱结构,其中垒层为GaN, 阱层为 InGaN,In 组分以质量分数计为 10-30%,阱层厚度为 2-5nm,生长温度为 700-800℃,垒层厚度为 8-13nm,生长温度为 800-950℃,生长过程中压力为200-500Torr;

步骤九:生长20-50nm厚的p-AlGaN电子阻挡层,该层中Al组分以质量分数计为 10-20%,空穴浓度为 1017-1018cm-3,生长温度为 850℃-1000℃,压力为50-300Torr;

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