[发明专利]一种基于电容式触控芯片的电容检测方法及装置

权利要求书

1.一种基于电容式触控芯片的电容检测方法，用于检测待检测通道的电容值，其特征在于，所述方法包括：

设置所述待检测通道的配置信息，所述待检测通道的配置信息中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息；

按照所述各待检测通道的预配置信息，为各待检测通道进行检测前的预配置；

按照所述各待检测通道的开启顺序的信息，开启首个待检测通道，并在当前开启的待检测通道中，检测因用户触摸而产生的电容值；

当完成当前开启的待检测通道的电容值检测时，按照所述开启顺序的信息，开启下一个待检测通道，并对所述下一个待检测通道继续执行电容值的检测，直至完成所有待检测通道的电容值的检测。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设置待检测通道的配置信息，所述待检测通道的配置信息中包含各待检测通道的开启顺序的信息以及各待检测通道的预配置信息包括：

设置形式为链表式的待检测通道的配置表，所述链表式的待检测通道的配置表中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息；

其中，所述链表式的待检测通道的配置表中包括：各待检测通道的指针和索引值；

所述各待检测通道的开启顺序的信息为每个待检测通道的指针指向另一个待检测通道的索引值的指向关系形成的顺序。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设置待检测通道的配置信息，所述待检测通道的配置信息中包含各待检测通道的开启顺序的信息以及各待检测通道的预配置信息包括：

设置形式为阵列式的待检测通道的配置表，所述阵列式的待检测通道的配 置表中包含各待检测通道的开启顺序的信息以及各待检测通道的预配置信息；

其中，所述各待检测通道的开启顺序的信息为所述阵列式的待检测通道的配置表中各待检测通道的排列顺序。

4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述按照所述各待检测通道的预配置信息，为各待检测通道进行检测前的预配置包括：

按照所述预配置信息，为各待检测通道配置检测电容值时所对应的电容积分电路、可编程增益放大器以及模数转换电路。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述开启首个待检测通道包括：

通过外加电压的方式，对所述首个待检测通道进行加压充电以开启所述首个待检测通道。

6.一种基于电容式触控芯片的电容检测装置，用于检测待检测通道的电容值，其特征在于，所述装置包括：

设置模块，用于设置所述待检测通道的配置信息，所述待检测通道的配置信息中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息；

配置模块，用于按照所述各待检测通道的预配置信息，为各待检测通道进行检测前的预配置；

开启模块，用于按照所述各待检测通道的开启顺序的信息，开启首个待检测通道；

检测模块，用于在当前开启的待检测通道中，检测因用户触摸而产生的电容值；

所述开启模块，还用于当完成当前开启的待检测通道的电容值检测时，按照所述开启顺序的信息，开启下一个待检测通道；

所述检测模块，还用于对所述下一个待检测通道继续执行电容值的检测。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述设置模块，还用于设置 形式为链表式的待检测通道的配置表，所述链表式的待检测通道的配置表中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息；

其中，所述链表式的待检测通道的配置表中包括：各待检测通道的指针和索引值；

所述各待检测通道的开启顺序的信息为每个待检测通道的指针指向另一个待检测通道的索引值的指向关系形成的顺序。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述设置模块，还用于设置形式为阵列式的待检测通道的配置表，所述阵列式的待检测通道的配置表中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息；

其中，所述各待检测通道的开启顺序的信息为所述阵列式的待检测通道的配置表中各待检测通道的排列顺序。

9.根据权利要求6至8任一项所述的装置，其特征在于，所述配置模块，具体用于按照所述预配置信息，为各待检测通道配置检测电容值时所对应的电容积分电路、可编程增益放大器以及模数转换电路。

10.根据权利要求9所述的电路，其特征在于，所述开启模块，还用于通过外加电压的方式，对所述首个待检测通道进行加压充电以开启所述首个待检测通道。