[发明专利]MEMS电化学地震检波器敏感电极芯片及其制造方法在审
申请号: | 201610079519.2 | 申请日: | 2016-02-04 |
公开(公告)号: | CN105785433A | 公开(公告)日: | 2016-07-20 |
发明(设计)人: | 陈德勇;孙振源;王军波;陈健;邓涛;李光磊 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电子学研究所 |
主分类号: | G01V1/18 | 分类号: | G01V1/18;B81B5/00;B81C1/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | mems 电化学 地震 检波器 敏感 电极 芯片 及其 制造 方法 | ||
1.一种MEMS电化学地震检波器敏感电极芯片,其特征在于,其包 括一个支撑基板、在该支撑基板的至少一个表面依次排列的N层电极层和 位于相邻两个电极层之间的N-1层绝缘间隔层,电极层具有M个电极层 通孔(31),绝缘间隔层具有M个绝缘间隔层通孔(32),支撑基板具有 M个支撑基板通孔(33),M个电极层通孔(31)、M个绝缘间隔层通孔 (32)以及M个支撑基板通孔(33)的位置正对,形成电解质溶液的流 经通道。
2.如权利要求1所述MEMS电化学地震检波器敏感电极芯片,其特 征在于,绝缘间隔层通孔(32)的尺寸大于电极层通孔(31),电极层靠 近电极层通孔(31)的边缘部分形成悬空结构,该边缘部分的上和/或下表 面暴露于电解质溶液的流经通道。
3.如权利要求1所述MEMS电化学地震检波器敏感电极芯片,其特 征在于,电极层和绝缘间隔层的一侧边缘部分开有引线窗,沿靠近支撑基 板的方向,内层的电极层和绝缘间隔层逐层突出于外层的电极层和绝缘间 隔层,形成台阶式的引线窗结构,电极层的边缘具有焊点(34),导线(35) 通过焊点(34)连接电极层。
4.如权利要求1所述MEMS电化学地震检波器敏感电极芯片,其特 征在于,电极层通孔(31)、绝缘间隔层通孔(32)和基板通孔(33)的 形状为方形、圆形或其他形状。
5.如权利要求1所述MEMS电化学地震检波器敏感电极芯片,其特 征在于,该电化学检波器敏感电极芯片的电极层为金属铂材料或者石墨材 料,绝缘间隔层为氮化硅或二氧化硅或有机聚合物,支撑基板为硅基材料 或者石英材料。
6.一种权利要求1所述的MEMS电化学地震检波器敏感电极芯片的 制造方法,其特征在于,其包括:
步骤A:准备支撑基板;
步骤B:在支撑基板的至少一个表面制作图形化的第一电极层;
步骤C:利用深刻蚀工艺形成支撑基板通孔;
步骤D:支撑基板通孔内填平负性光刻胶;
步骤E:表面旋涂负性光刻胶;
步骤F:负性光刻胶曝光不显影;
步骤G:对负性光刻胶进行氧等离子体处理;
步骤H:旋涂正性光刻胶、光刻并溅射电极层材料;
步骤I:剥离正性光刻胶,形成第二电极层;
步骤J:重复步骤E至步骤I,在支撑基板的至少一个表面形成交替排 列的N层电极层和N-1层绝缘间隔层;
步骤K:对负性光刻胶显影,制成电化学地震检波器敏感电极芯片。
7.如权利要求6所述的制造方法,其特征在于,在步骤F中,对负 性光刻胶曝光的掩膜版(36)的遮光部分尺寸大于电极层通孔(31)的尺 寸,使得制成的电化学地震检波器敏感电极芯片的绝缘间隔层通孔(32) 的尺寸大于电极层通孔(31)的尺寸。
8.如权利要求6所述的制造方法,其特征在于,在步骤F中,对负 性光刻胶曝光的掩膜版(36)的一侧边缘部分遮光,使得制成的电化学地 震检波器敏感电极芯片的电极层和绝缘间隔层具有引线窗结构。
9.如权利要求6所述的制造方法,其特征在于,该方法还进一步包 括步骤L,
步骤L:在电极层的引线窗结构形成焊点并键合引线或焊接导线。
10.如权利要求6所述的制造方法,其特征在于,在步骤E中,通过 控制旋涂的负性光刻胶的厚度来调节绝缘间隔层的厚度。
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