[发明专利]工件的特性测定装置以及工件的特性测定方法

说明书

本发明提供能够不在工件的低硬度部产生损伤地进行固定而对工件高精度地进行特性测定的工件的特性测定装置以及工件的特性测定方法。工件的特性测定装置(100)具备在输送工作台(2)的外周部设置并进行被收纳在工件收纳孔内的工件(W1)的特性测定的工件的特性检测部(10)。工件的特性检测部(10)具有抵接于工件(W1)而进行工件的特性检测的检测部件(P1a、P1b)；和将工件收纳孔内(3)的工件(W1)向工件收纳孔(3)中与开口部相向的内壁(3si、5s)侧固定的固定单元(15)。在各工件收纳孔(3)的内壁(3si、5s)形成有在工件(W1)抵接于内壁的情况下避开工件(W1)的低硬度部的缺口部(3si)。

技术领域

本发明涉及在形成于输送工作台的多个工件收纳孔个别地收纳电子零件等工件并输送、由在输送工作台的旋转路径中配置的工件的特性测定部对工件的特性进行测定的工件的特性测定装置以及工件的特性测定方法，特别涉及在具有易于由于按压而产生损伤的低硬度部的工件的测定时、能够不按压低硬度部地将工件固定的工件的特性测定装置以及工件的特性测定方法。

背景技术

以往以来，已知有在形成于旋转自在的输送工作台的多个工件收纳孔中个别地收纳电子零件等工件并输送的工件特性测定装置(参照专利文献1)。

将专利文献1中记载的工件输送装置的平面图示于图28。工件输送装置100具有在水平的工作台基座101之上配置的旋转自在的输送工作台102。

在输送工作台102的外周部形成有个别地收纳图29所示的芯片形电子零件等工件W0的多个工件收纳孔103。输送工作台102通过未图示的驱动机构的作用在中心轴104的周围顺时针(箭头A方向)间歇旋转。另外，除位于后述的分离供给部107的工件收纳孔103外，工件收纳孔103的上表面由工作台罩105覆盖。

将工件W0的立体图示于图29。工件W0是发光二极管(LED)，具有在上表面有发光面W0s的长方体形状的主体W0x和从主体W0x向长边方向的前方以及后方突出的引线端子W0a、W0b。

将从图29中的E0方向、F0方向、G0方向、H0方向看工件W0的图分别示于图30(a)(b)(c)(d)。如图30(a)(c)所示，引线端子W0a、W0b分别从主体W0x的后方面W0c、前方面W0d突出，它们的底面与主体W0x的底面一致。将工件W0的内部电路示于图31。内部电路是发光二极管D0，引线端子W0a是阳极、引线端子W0b是阴极。若对引线端子W0a、W0b之间施加电压使得W0a变为高电位，则发光二极管D0发光。

此时，外观上，图29中的发光面W0s发光。此外，如图30(b)(c)所示，发光面W0s比主体W0x的上表面W0t稍稍凹陷。作为市售的发光二极管的例子，有的如图29所示，主体W0x的纵长X0是3mm、横宽Y0是5mm、高度Z0是1mm、引线端子W0a以及W0b的突出部的长度j是0.3mm、高度k是0.25mm。

图29所示的工件W0，在图28所示的工件输送装置中通过直线形状的线性送料器106的振动的作用而按一列被沿箭头B方向输送。此时，图29所示的引线端子W0b变得位于沿图28所示的箭头B方向。线性送料器106的终端部与在输送工作台102的外周部形成的工件收纳孔103的开口部相向，在这里设置有分离供给部107。在线性送料器106上以一列状态被输送的工件W0，在分离供给部107中分离而被个别地收纳于在输送工作台102的外周部形成的工件收纳孔103。接着，通过输送工作台102的图28中的箭头A方向的间歇旋转而被输送。

在输送工作台102的外周部沿间歇旋转方向(箭头A方向)依次设置有第1检测部108、第2检测部109、排出部110。在第1检测部108进行工件W0的电气特点检测。将该样子作为图28的C－C′剖视图示于图32到图34。