[发明专利]距离测量设备及确定距离的方法有效
申请号: | 201580064827.1 | 申请日: | 2015-11-17 |
公开(公告)号: | CN107003408B | 公开(公告)日: | 2019-08-16 |
发明(设计)人: | C·耶茨;C·索弗利;S·马格赫 | 申请(专利权)人: | 欧都思影像公司 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08 |
代理公司: | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人: | 魏嘉熹;南毅宁 |
地址: | 英国*** | 国省代码: | 英国;GB |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 卷积 开始时间点 短光脉冲 脉冲 长光 延迟 距离测量设备 可变延迟 光元件 集成门 照射 结束时间点 计算距离 输出信号 发射 | ||
本发明涉及一种确定距离测量设备(1)与物体(9)之间的距离的方法,所述方法包括:a)用至少一个持续时间为Tp,s的短光脉冲(23)照射物体(9);b)用多个持续时间为Tp,l的长光脉冲(24)照射物体(9);c)在集成门(21)结束时输出信号值Uref,其中短光脉冲(23)的发射开始时间点与Δs之间的不变延迟使得Δtof和Δtof+Tp,s在Δs和Δe之间,其中,Δtof是短光脉冲到达光元件时的第一时间点,Δs是集成开始时间点,Δe是集成结束时间点;d)在在长光脉冲(19,24)的发射开始时间点与集成门(21)之间具有针对每个长光脉冲(24)的各自可变延迟τ的情况下根据到达光元件(3)的光的强度和Δs形成卷积函数fc:=U(τ),其中所述可变延迟彼此不同以形成所述卷积函数;e)识别卷积函数中对应于Uref的延迟τc;f)通过使用在步骤e)中识别的卷积函数中的延迟τc来计算距离。
技术领域
本发明涉及一种距离测量设备及用该距离测量设备确定距离的方法。
背景技术
距离可以通过光学方法在测量设备和物体之间被测量,而不需要在测量设备和物体之间产生物理接触。在这些方法中,物体被测量设备照射,然后,从所述物体反射的光被该测量设备的光检测器捕获。
距离可以通过例如周期性地调制从所述设备发射的光强并通过测量发射光和到达检测器的背面反射光(back reflected light)之间的相位差来确定。然而,由于光强的周期性,这种方法导致了模糊的距离测量。通过测量光的发射与背面反射光到达检测器之间的飞行时间,可以确定明确的距离测量。
通过测量光的性质,特别是作为时间函数的强度,来进行传统的距离测量。然后处理所述性质与时间的图形以获得飞行时间。这种处理可能在计算上是复杂的,因此可能需要很长的时间来执行。如果距离测量需要很长的时间来执行,这可能导致进行距离测量的重复频率(repetition rate)降低。
传统距离测量的精度受到利用其测量光的性质的时间步长的大小的限制。而且,对于传统的距离测量,物体的不同反射率也可导致所述图形的不同形状。当处理不同的图形时,这可以导致不同的距离,使得距离取决于物体的反射率,这进一步降低了传统距离测量的精度。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种距离测量设备及用该距离测量设备测量距离的方法,其中,所述距离测量操作简便且能同时保持精度。
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