[发明专利]用于反射测量的测量装置有效
申请号: | 201580041617.0 | 申请日: | 2015-06-22 |
公开(公告)号: | CN106574866B | 公开(公告)日: | 2021-08-10 |
发明(设计)人: | 约尔格·马格雷夫;延斯·蒙德里 | 申请(专利权)人: | 卡尔蔡司光谱有限公司 |
主分类号: | G01J3/02 | 分类号: | G01J3/02;G01J3/08;G01J3/10;G01J3/50;G01N21/47 |
代理公司: | 上海和跃知识产权代理事务所(普通合伙) 31239 | 代理人: | 尹洪波 |
地址: | 德国图林*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 反射 测量 装置 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于卡尔蔡司光谱有限公司,未经卡尔蔡司光谱有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201580041617.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:照明装置
- 下一篇:致动声光部件的方法和设备