[实用新型]一种半导体测试分选设备

权利要求书

1.一种半导体测试分选设备，包括震动盘、转盘、动吸嘴、定吸嘴、定位器和卫星工作台，所述动吸嘴设置在所述转盘上，所述定吸嘴、定位器和卫星工作台分别固定在所述转盘底座的四周，所述震动盘通过导轨与所述定吸嘴连接，其特征是，在所述导轨设置吹气孔，在所述定吸嘴设置凹槽，在所述定位器设置第一定位槽，在所述卫星工作台设置第二定位槽。

2.根据权利要求1所述的半导体测试分选设备，其特征是，所述导轨包括弯弧导轨和直导轨，在所述弯弧导轨的一端设置第一吹气孔，在所述弯弧导轨的另一端设置第二吹气孔，在所述直导轨的下方均布若干吹气孔。

3.根据权利要求1所述的半导体测试分选设备，其特征是，所述定吸嘴的凹槽设置在定吸嘴的吸气口处，所述定吸嘴的凹槽的宽度略大于产品注塑凸口的宽度，所述凹槽的深度大于产品注塑凸口的高度。

4.根据权利要求1所述的半导体测试分选设备，其特征是，所述第一定位槽和第二定位槽的凹槽数量和位置根据产品管脚的数量和位置设置。

5.根据权利要求4所述的半导体测试分选设备，其特征是，所述定位槽的凹槽宽度大于产品管脚的宽度，所述定位槽的凹槽深度大于管脚的长度。

6.根据权利要求4或5所述的半导体测试分选设备，其特征是，所述第一定位槽的凹槽数量为6个，分别设置在所述定位器的中间。

7.根据权利要求4或5所述的半导体测试分选设备，其特征是，所述第二定位槽的凹槽数量为6个，分别设置在所述卫星工作台的定位块的中间。

8.根据权利要求7所述的半导体测试分选设备，其特征是，所述定位块为4块，分别对称设置在所述卫星工作台的上下左右。