[实用新型]一种IC卡封装装置有效
申请号: | 201520147052.1 | 申请日: | 2015-03-16 |
公开(公告)号: | CN204391065U | 公开(公告)日: | 2015-06-10 |
发明(设计)人: | 罗长兵;陈晋杰;高强;刘源海 | 申请(专利权)人: | 鸿博股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 福州市景弘专利代理事务所(普通合伙) 35219 | 代理人: | 林祥翔;吕元辉 |
地址: | 350002 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 ic 封装 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及IC卡生产加工领域,尤其涉及一种IC卡封装装置。
背景技术
IC卡自推广以来就得到了迅速普及,截至目前IC卡的发卡量已经突破10亿张,占新增银行卡发行总量的八成以上。为了进一步提高金融IC卡芯片的使用率,降低伪卡风险,根据央行部署,自2015年1月1日起IC卡将全面取代磁条卡。在此背景下,未来几年里,IC卡的需求量将持续走高,对IC卡的生产加工具有广阔的市场前景。
在IC生产加工过程中,对IC卡进行封装就是其中的一个重要环节,现有的IC卡一般包括金融IC卡芯片以及塑料卡基,所谓封装就是将金融IC卡芯片嵌合进塑料卡基的卡体内,使之形成一个整体。对于IC卡的封装,通常采用封装机或手工来完成。采用手工封装的方式,不仅生产效率低下,且封装后的IC卡的质量也无法得到保证,存在着诸多问题。而对于用封装机进行封装IC卡,通常是先将IC卡的塑料卡基使用高温软化,而后在高压条件下将IC卡芯片嵌合进塑料卡基的卡体内,并在塑料卡基的卡体与IC卡芯片接触部分使用软化胶进行粘接,从而完成对IC卡的封装。由于封装过程中使用了高温和高压,在将IC卡芯片嵌合进塑料卡基的卡体内过程中,由于塑料卡基已经软化,容易发生收缩变形,导致封装后的IC卡的芯片背面出现明显的收缩痕迹,严重影响了卡面的美观程度,更有甚者,如果形变量较大,将导致封装后的IC卡的芯片背面明显凸起,影响IC卡的正常使用,产生废卡。
因而,如何在将IC卡芯片嵌合进塑料卡基的卡体内过程中,使得塑料卡基的卡体不发生收缩形变,进而使得封装后的IC卡芯片背面一侧保持光滑平整,从而不影响IC卡的整体感官程度是IC卡生产加工领域一个亟需解决的问题。
实用新型内容
基于上述原因,需要提供一种IC卡封装的技术方案,用以解决在将IC卡芯片嵌合进塑料卡基的卡体内过程中,塑料卡基由于软化,发生收缩变形,导致封装后的IC卡的芯片背面出现明显的收缩痕迹,严重影响了卡面的美观程度,进而带给用户不良感官体验的问题。
为实现上述目的,发明人提供一种IC卡封装装置,用于封装IC卡芯片和塑料卡基,其特征在于,所述IC卡封装装置包括传送装置、动力装置、封装平台、热压装置、冷压装置与负压装置;
所述封装平台上设置有与IC卡大小相适配的卡槽,卡槽底部设置有吸附孔隙,所述传送装置带动封装平台运动,所述热压装置与冷压装置沿封装平台运动方向顺序设置;
所述热压装置包括热压头,热压头位于封装平台的上方,热压头中设置有加热装置,所述加热装置用于软化IC卡的塑料卡基,所述热压头与动力装置传动连接,并驱动热压头向封装平台方向往复运动,以热压卡槽中的IC卡;
所述冷压装置包括冷压头,冷压头位于封装平台上方,所述冷压头与动力装置传动连接,并驱动冷压头向封装平台方向往复运动,以冷压卡槽中的IC卡;
所述负压装置与吸附空隙连通,吸附空隙以负压吸附位于冷压头下方的封装平台的卡槽上的IC卡的塑料卡基。
进一步地,所述热压头的数量为两个,包括第一热压头和第二热压头;所述冷压头的数量为两个,包括第一冷压头和第二冷压头;所述第一热压头、第二热压头、第一冷压头与第二冷压头沿封装平台运动方向设置。
进一步地,所述吸附孔隙的数量为两个以上,且均匀分布于卡槽的底面。
进一步地,所述吸附孔隙的形状为圆形,椭圆形或长条形。
进一步地,所述吸附孔隙的形状为圆形,吸附孔隙的直径为0到1毫米,相邻的吸附孔隙之间圆心的距离为2.5到3毫米。
进一步地,所述卡槽底部在IC卡的塑料卡基对应IC卡芯片的位置设置有吸附孔隙。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造