[实用新型]一种芯片失效点定位装置

权利要求书

1.一种芯片失效点定位装置，其特征在于，所述芯片失效点定位装置包括样品固定台、基座，所述样品固定台固定连接在所述基座上，所述样品固定台包括上盖、开口矩形凹槽，所述上盖上表面设有开口，沿开口竖直向下设有与所述开口矩形凹槽相匹配的压合梁，所述压合梁内部为中空结构，所述压合梁底部上表面设置有坐标刻度点和方向标，所述上盖活动连接在开口矩形凹槽顶部边缘处，所述开口矩形凹槽底部设置有接触排针，所述开口矩形凹槽底部与所述基座连接处设置有和接触排针相连接的接线端口。

2.根据权利要求1所述的芯片失效点定位装置，其特征在于，所述接触排针为可伸缩具有弹性的接触排针。

3.根据权利要求1所述的芯片失效点定位装置，其特征在于，所述接触排针均匀分布在开口矩形凹槽的底部。

4.根据权利要求1所述的芯片失效点定位装置，其特征在于，所述接触排针的材质为导电材料。

5.根据权利要求1所述的芯片失效点定位装置，其特征在于，所述接触排针的材质为铜或铝。

6.根据权利要求1所述的芯片失效点定位装置，其特征在于，所述上盖一端通过水平转轴活动连接在开口矩形凹槽顶部边缘处，另一端通过按扣活动连接在开口矩形凹槽顶部边缘处。

7.根据权利要求1至6之一所述的芯片失效点定位装置，其特征在于，所述样品固定台的形状为圆形。