[发明专利]一种光子带隙光纤陀螺中反射次波光程差的测量方法

权利要求书

1.一种光子带隙光纤陀螺中反射次波光程差的测量方法，其特征在于：

步骤一、记录并导出光谱仪所测的输出光谱数据；

光源输出光经过耦合器，在Y波导中分为两路，其中上路光在熔点A处反射，下路光在熔点B处反射，两路反射光经过Y波导，最终经过耦合器，利用光谱仪测量输出光谱，导出光谱仪测得光谱数据；

步骤二、对测量得到的光谱数据做快速傅里叶变换得到反射次波的光程差；

设波长为λ的光反射到光谱仪时存在稳定的相位差则返回光强I为：

其中，

I_λ＝I_λ正+I_λ反+I_1λ+I_2λ

Iλ,=2I1λI2λ]]>

I_λ正与I_λ反为光源输出的波长λ的光沿光路正向和反向经过，到达光谱仪的光强，I_1λ与I_2λ为光源输出的波长λ的光经两个反射点反射后，到达光谱仪的光强，L为次波反射点距离，nλ为波长为λ的光在传输介质中的折射率；叠加信号的两相邻周期需满足：

2πλ1n·(2L)-2πλ2n·(2L)=2π]]>

其中λ₁与λ₂为光源输出光谱两端，即光源输出光的最短波长与最长波长，整理得到，

L=λm22·n·Δλ]]>

其中λ_m为中心波长，因此将快速傅里叶变换所得到的曲线横坐标乘以对纵坐标取对数处理，在L处存在次波反射点，所以得到反射次波光程差为n×L。

2.一种光子带隙光纤陀螺中反射次波光程差测量装置，其特征在于：包括：光源、光纤耦合器、光谱仪、Y波导和光子带隙光纤环，光源的输出光纤与光纤耦合器的一个输入端光纤熔接，光纤耦合器的另一输入端与光纤跳线熔接后连接光谱仪，选取光纤耦合器的一个输出端光纤与Y波导的输入端光纤熔接，并对光纤耦合器的另一个未用输出端采用防止端面反射的处理；Y波导的两个输出端分别与光子带隙光纤环的两端光纤熔接于熔点A和熔点B，待测反射次波即产生在这两个熔点位置，因此也称这两个熔点A和熔点B位置为次波反射点。

3.根据权利要求2所述的一种光子带隙光纤陀螺中反射次波光程差测量装置，其特征在于：所述的防止端面反射的处理是指采用不规则折断或者浸入到匹配液中的方式防止端面反射。