[发明专利]一种电子硅片的清洗方法在审
申请号: | 201510664241.0 | 申请日: | 2015-10-14 |
公开(公告)号: | CN105405743A | 公开(公告)日: | 2016-03-16 |
发明(设计)人: | 蒋俊 | 申请(专利权)人: | 桂林市味美园餐饮管理有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L31/18 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 周玉红 |
地址: | 541002 广西壮族自治区桂*** | 国省代码: | 广西;45 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电子 硅片 清洗 方法 | ||
技术领域
本发明涉及电子领域,具体涉及一种电子硅片的清洗方法。
背景技术
硅片的清洗很重要,它影响电池的转换效率,如器件的性能中反向电流迅速加大、器件失效等。
发明内容
本发明解决上述技术问题的技术方案如下:一种电子硅片的清洗方法,包括如下的步骤:
(1)用有机溶剂清洗;
(2)用去离子水清洗;
(3)用无机酸清洗;
(4)用氢氟酸清洗;
(5)再用去离子水清洗;
(6)超声波清洗;
(7)最后对硅片真空高温处理便可。
进一步,所述有机溶剂为甲苯、丙酮或者酒精中的一种。
进一步,所述无机酸为盐酸、硫酸、硝酸或者王水中的一种。
本发明的有益效果是:
1.在太阳能材料制备过程中,在硅表面涂有一层具有良好性能的减反射薄膜,有害的杂质离子进入二氧化硅层,会降低绝缘性能,清洗后绝缘性能会更好。
2.在等离子边缘腐蚀中,如果有油污、水气、灰尘和其它杂质存在,会影响器件的质量,清洗后质量大大提高。
3.清除杂质,防止硅片中杂质离子影响P-N结的性能,导致P-N结的击穿电压降低和表面漏电,影响P-N结的性能。
4.清除杂质,防止杂质的存在影响硅片的电阻率不稳定。
具体实施方式
以下结合具体实例对本发明的原理和特征进行描述,所举实例只用于解释本发明,并非用于限定本发明的范围。
一种电子硅片的清洗方法,包括如下的步骤:
(1)用有机溶剂清洗(甲苯、丙酮、酒精等);
(2)用去离子水清洗;
(3)用无机酸(盐酸、硫酸、硝酸、王水)清洗;
(4)用氢氟酸清洗;
(5)再用去离子水清洗;
(6)超声波清洗;
(7)最后对硅片真空高温处理便可。
a.有机溶剂在清洗中的作用
用于硅片清洗常用的有机溶剂有甲苯、丙酮、酒精等。在清洗过程中,甲苯、丙酮、酒精等有机溶剂的作用是除去硅片表面的油脂、松香、蜡等有机物杂质。所利用的原理是“相似相溶”。
b.无机酸在清洗中的作用
硅片中的杂质如镁、铝、铜、银、金、氧化铝、氧化镁、二氧化硅等杂质,只能用无机酸除去。有关的反应如下:
2Al+6HCl=2AlCl3+3H2↑
Al2O3+6HCl=2AlCl3+3H2O
Cu+2H2SO4=CuSO4+SO2↑+2H2O
2Ag+2H2SO4=2Ag2SO4+SO2↑+2H2O
Cu+4HNO3=Cu(NO3)2+2NO2↑+2H2O
Ag+4HNO3=AgNO3+2NO2↑+2H2O
Au+4HCl+HNO3=H[AuCl4]+NO↑+2H2O
SiO2+4HF=SiF4↑+2H2O
如果HF过量则反应为:SiO2+6HF=H2[SiF6]+2H2O
H2O2的作用:在酸性环境中作还原剂,在碱性环境中作氧化剂。在硅片清洗中对一些难溶物质转化为易溶物质。如:
As2S5+20H2O2+16NH4OH=2(NH4)3AsO4+5(NH4)2SO4+28H2O
MnO2+H2SO4+H2O2=MnSO4+2H2O+O2↑
c.RCA清洗方法及原理
在生产中,对于硅片表面的清洗中常用RCA方法及基于RCA清洗方法的改进,RCA清洗方法分为Ⅰ号清洗剂(APM)和Ⅱ号清洗剂(HPM)。Ⅰ号清洗剂(APM)的配置是用去离子水、30%过氧化氢、25%的氨水按体积比为:5:1:1至5:2:1;Ⅱ号清洗剂(HPM)的配置是用去离子水、30%过氧化氢、25%的盐酸按体积比为:6:1:1至8:2:1。其清洗原理是:氨分子、氯离子等与重金属离子如:铜离子、铁离子等形成稳定的络合物如:[AuCl4]-、[Cu(NH3)4]2+、[SiF6]2-。
清洗时,一般应在75~85℃条件下清洗、清洗15分钟左右,然后用去离子水冲洗干净。Ⅰ号清洗剂(APM)和Ⅱ号清洗剂(HPM)有如下优点:
(1)这两种清洗剂能很好地清洗硅片上残存的蜡、松香等有机物及一些重金属如金、铜等杂质;
(2)相比其它清洗剂,可以减少钠离子的污染;
(3)相比浓硝酸、浓硫酸、王水及铬酸洗液,这两种清洗液对环境的污染很小,操作相对方便。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于桂林市味美园餐饮管理有限公司,未经桂林市味美园餐饮管理有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510664241.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:具有阻抗调制的RF功率放大器系统
- 下一篇:半导体装置和半导体装置的制造方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造