[发明专利]一种电子硅片的清洗方法在审

专利信息
申请号: 201510664241.0 申请日: 2015-10-14
公开(公告)号: CN105405743A 公开(公告)日: 2016-03-16
发明(设计)人: 蒋俊 申请(专利权)人: 桂林市味美园餐饮管理有限公司
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;H01L31/18
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 周玉红
地址: 541002 广西壮族自治区桂*** 国省代码: 广西;45
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摘要:
搜索关键词: 一种 电子 硅片 清洗 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及电子领域,具体涉及一种电子硅片的清洗方法。

背景技术

硅片的清洗很重要,它影响电池的转换效率,如器件的性能中反向电流迅速加大、器件失效等。

发明内容

本发明解决上述技术问题的技术方案如下:一种电子硅片的清洗方法,包括如下的步骤:

(1)用有机溶剂清洗;

(2)用去离子水清洗;

(3)用无机酸清洗;

(4)用氢氟酸清洗;

(5)再用去离子水清洗;

(6)超声波清洗;

(7)最后对硅片真空高温处理便可。

进一步,所述有机溶剂为甲苯、丙酮或者酒精中的一种。

进一步,所述无机酸为盐酸、硫酸、硝酸或者王水中的一种。

本发明的有益效果是:

1.在太阳能材料制备过程中,在硅表面涂有一层具有良好性能的减反射薄膜,有害的杂质离子进入二氧化硅层,会降低绝缘性能,清洗后绝缘性能会更好。

2.在等离子边缘腐蚀中,如果有油污、水气、灰尘和其它杂质存在,会影响器件的质量,清洗后质量大大提高。

3.清除杂质,防止硅片中杂质离子影响P-N结的性能,导致P-N结的击穿电压降低和表面漏电,影响P-N结的性能。

4.清除杂质,防止杂质的存在影响硅片的电阻率不稳定。

具体实施方式

以下结合具体实例对本发明的原理和特征进行描述,所举实例只用于解释本发明,并非用于限定本发明的范围。

一种电子硅片的清洗方法,包括如下的步骤:

(1)用有机溶剂清洗(甲苯、丙酮、酒精等);

(2)用去离子水清洗;

(3)用无机酸(盐酸、硫酸、硝酸、王水)清洗;

(4)用氢氟酸清洗;

(5)再用去离子水清洗;

(6)超声波清洗;

(7)最后对硅片真空高温处理便可。

a.有机溶剂在清洗中的作用

用于硅片清洗常用的有机溶剂有甲苯、丙酮、酒精等。在清洗过程中,甲苯、丙酮、酒精等有机溶剂的作用是除去硅片表面的油脂、松香、蜡等有机物杂质。所利用的原理是“相似相溶”。

b.无机酸在清洗中的作用

硅片中的杂质如镁、铝、铜、银、金、氧化铝、氧化镁、二氧化硅等杂质,只能用无机酸除去。有关的反应如下:

2Al+6HCl=2AlCl3+3H2↑

Al2O3+6HCl=2AlCl3+3H2O

Cu+2H2SO4=CuSO4+SO2↑+2H2O

2Ag+2H2SO4=2Ag2SO4+SO2↑+2H2O

Cu+4HNO3=Cu(NO3)2+2NO2↑+2H2O

Ag+4HNO3=AgNO3+2NO2↑+2H2O

Au+4HCl+HNO3=H[AuCl4]+NO↑+2H2O

SiO2+4HF=SiF4↑+2H2O

如果HF过量则反应为:SiO2+6HF=H2[SiF6]+2H2O

H2O2的作用:在酸性环境中作还原剂,在碱性环境中作氧化剂。在硅片清洗中对一些难溶物质转化为易溶物质。如:

As2S5+20H2O2+16NH4OH=2(NH4)3AsO4+5(NH4)2SO4+28H2O

MnO2+H2SO4+H2O2=MnSO4+2H2O+O2↑

c.RCA清洗方法及原理

在生产中,对于硅片表面的清洗中常用RCA方法及基于RCA清洗方法的改进,RCA清洗方法分为Ⅰ号清洗剂(APM)和Ⅱ号清洗剂(HPM)。Ⅰ号清洗剂(APM)的配置是用去离子水、30%过氧化氢、25%的氨水按体积比为:5:1:1至5:2:1;Ⅱ号清洗剂(HPM)的配置是用去离子水、30%过氧化氢、25%的盐酸按体积比为:6:1:1至8:2:1。其清洗原理是:氨分子、氯离子等与重金属离子如:铜离子、铁离子等形成稳定的络合物如:[AuCl4]-、[Cu(NH3)4]2+、[SiF6]2-。

清洗时,一般应在75~85℃条件下清洗、清洗15分钟左右,然后用去离子水冲洗干净。Ⅰ号清洗剂(APM)和Ⅱ号清洗剂(HPM)有如下优点:

(1)这两种清洗剂能很好地清洗硅片上残存的蜡、松香等有机物及一些重金属如金、铜等杂质;

(2)相比其它清洗剂,可以减少钠离子的污染;

(3)相比浓硝酸、浓硫酸、王水及铬酸洗液,这两种清洗液对环境的污染很小,操作相对方便。

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