[发明专利]一种制备高纯度硅颗粒的方法有效
| 申请号: | 201510632181.4 | 申请日: | 2015-09-29 |
| 公开(公告)号: | CN105417545B | 公开(公告)日: | 2018-11-23 |
| 发明(设计)人: | 朱嘉;宗麟奇;崔屹 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
| 主分类号: | C01B33/037 | 分类号: | C01B33/037 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 李帆 |
| 地址: | 210093 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 制备 纯度 颗粒 方法 | ||
本发明通过酸洗平均粒度小于40微米的原料硅颗粒,有效降低了原料硅中杂质的含量,获得了高纯度硅颗粒。该高纯度硅颗粒作为锂离子电池负极材料,表现出较好的循环能力和倍率能力。
技术领域
本发明属于硅提纯领域,具体涉及一种制备高纯度硅颗粒的方法。
背景技术
硅元素(Si)在地表中的含量很高,其广泛分布于灰尘、沙子或泥土中,元素含量位居世界第二。但是,硅元素的存在的形式主要是硅酸盐或者硅的氧化物,很难在自然界中直接获得纯度较高的硅。
工业中大量使用的原料硅是硅铁(Ferrosilicon)。人们希望通过提纯原料硅获得纯度尽可能高的单质硅,以用于光电转化或者电子设备。采用西门子法可以获得高纯度的多晶硅,该方法通常包括将硅转化为挥发性液体(如三氯甲硅烷和四氯化硅)或气体硅烷的步骤,然后通过蒸馏将上述化合物分离,再通过氧化还原反应或在高温下化学分解,将上述化合物转化为高纯度硅。该方法在生产的过程中会消耗大量的能源,并且会产生很严重的污染。此外,若要获得纳米结构的硅,还需要通过自顶向下的方法,如光刻,或自底向上的方法,如化学气相沉积。这些都是复杂并且昂贵的方法。
酸腐蚀提纯硅的方法自1919年被人们使用,但使用该方法获得的硅纯度很有限。Yu ZL等人在Removal of iron and aluminum impurities from metallurgical grade-silicon with hydrometallurgical route(2007)一文中,讨论了用酸洗的方法去除原料硅中含有的杂质。该文认为,最优的反应条件为:酸浓度6mol/L,温度为60℃,反应大约4天,原料直径约50微米。采用,但该方法对于原料硅中Fe和Al的去除率仅为85%和75%。
现有技术仍需要更好的提纯硅的方法。
发明内容
发明人发现,采用本发明的方法,能够有效地降低原料硅中杂质的含量,获得硅含量较高的硅颗粒。本发明一个目的是提供一种制备高纯度硅颗粒的方法。本发明又一个目的是提供一种低成本的制备硅颗粒的方法。本发明再一个目的是提供一种高效率的制备硅颗粒的方法。本发明再一个目的是提供一种高产率的制备硅颗粒的方法。本发明再一个目的是提供一种低污染的制备硅颗粒的方法。本发明再一个目的是提供一种可控性强的制备硅颗粒的方法。本发明再一个目的是提供一种可规模化的制备硅颗粒的方法。
为实现上述一个或多个目的,在本发明的一个实施方案中,本发明提供了一种制备高纯度硅颗粒的方法,该方法包括:
a)获得原料硅颗粒,所述原料硅颗粒的平均粒度小于或等于40微米;
c)酸洗所述原料硅颗粒。
在本发明的一个优选实施方案中,本发明提供了一种制备高纯度硅颗粒的方法,所述原料硅颗粒的平均粒度小于或等于20微米,再优选小于或等于10微米,再优选小于或等于5微米,再优选小于或等于3微米,再优选小于或等于2微米、再优选小于或等于1微米;
进一步优选小于或等于0.8微米,再优选小于或等于0.5微米,再优选小于或等于0.3微米,再优选小于或等于0.2微米,再优选小于或等于0.15微米,再优选小于或等于0.11微米,再优选小于或等于0.05微米。
在本发明的一个实施方案中,提供了一种制备高纯度硅颗粒的方法,该方法包括:
a)获得原料硅颗粒;
b)将所述原料硅颗粒在真空或非氧化气氛下热处理,热处理温度为500℃以上,热处理时间为30分钟以上;
c)酸洗热处理后的原料硅颗粒。
在本发明的一个优选实施方案中,本发明提供了一种制备高纯度硅颗粒的方法,步骤a)所述原料硅颗粒的平均粒度小于或等于3mm,优选小于或等于2mm,再优选小于或等于1mm;
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