[发明专利]一种考虑振动影响的精密光谱仪在审

专利信息
申请号: 201510571164.4 申请日: 2015-09-08
公开(公告)号: CN105181138A 公开(公告)日: 2015-12-23
发明(设计)人: 蔡元学 申请(专利权)人: 天津科技大学
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 天津市新天方有限责任专利代理事务所 12104 代理人: 李桂英
地址: 300222 天*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 考虑 振动 影响 精密 光谱仪
【说明书】:

技术领域

发明属于光学设备领域,尤其涉及一种考虑振动影响的精密光谱仪。

背景技术

光谱仪(Spectroscope)是将成分复杂的光分解为光谱线的科学仪器,由棱镜或衍射光栅等构成,利用光谱仪可测量物体表面反射的光线。阳光中的七色光是肉眼能分的部分(可见光),但若通过光谱仪将阳光分解,按波长排列,可见光只占光谱中很小的范围,其余都是肉眼无法分辨的光谱,如红外线、微波、紫外线、X射线等等。通过光谱仪对光信息的抓取、以照相底片显影,或电脑化自动显示数值仪器显示和分析,从而测知物品中含有何种元素。这种技术被广泛地应用于空气污染、水污染、食品卫生、金属工业等的检测中。

而一台典型的光谱仪主要包括:入射滤光、准直元件、色散元件、聚焦元件、探测器阵列等几个主要部分,但是在某些振动较为突出的工作环境中,例如野外科研的科研车辆上,难以保证准确的消振,造成测量出现一定误差。

故有必要针对上述问题,拟采用传感器技术,实时地获得振动对光谱仪整体的影响,通过数据对比分析,尽量消除振动对光谱测量的影响。

发明内容

针对以上现有存在的问题,本发明提供一种考虑振动影响的精密光谱仪,结构简单,能够实时地获得振动对光谱仪整体的影响,可以通过数据对比分析,达到尽量消除振动对光谱测量的影响的目的。

本发明的技术方案在于:

本发明提供一种考虑振动影响的精密光谱仪,包括逻辑控制单元、振动信号输出线、探测器、探测器聚光透镜、光栅、滤光器、光纤连接器、振动传感器A、聚焦镜支架、聚焦镜、振动传感器B、准直镜支架、准直镜、振动传感器C、振动传感器D、光谱信号输出线和机体,所述光纤连接器安装在所述机体的右壁外侧且其左端与所述滤光器相连,所述准直镜安装在与所述滤光器相对的所述机体壁面的所述准直镜支架上,所述光栅安装在所述机体内壁上且其与所述滤光器相邻,所述聚焦镜安装在所述聚焦镜支架上,所述探测器聚光透镜安装在所述探测器上,所述逻辑控制单元安装在所述探测器的后面。

进一步地,光线从所述光纤连接器进入,依次经过所述滤光器、准直镜、光栅、聚焦镜和探测器聚光透镜。

进一步地,所述振动传感器A、振动传感器B、振动传感器C和振动传感器D分别安装在所述机体外底面的四个角上。

进一步地,所述振动信号输出线一端安装在所述机体内部的所述逻辑控制单元上,另一端与所述机体外部的PC主机相连。

进一步地,所述光谱信号输出线一端安装在所述机体内部的所述探测器上,另一端与所述机体外部的ICCD探测器或PC主机相连。

本发明由于采用了上述技术,使之与现有技术相比具体的积极有益效果为:

1、本发明利用传感器技术,能够实时地获得振动对光谱仪整体的影响。

2、本发明可以通过数据对比分析,达到尽量消除振动对光谱测量的影响的目的。

3、本发明在某些振动突出的工作环境下较一般光谱仪的测量更为准确。

4、本发明结构简单,安全可靠,具有良好的市场前景。

5、本发明产品性能好,使用寿命长。

附图说明

图1是本发明结构的整体结构立体图。

图中:1-逻辑控制单元,2-振动信号输出线,3-探测器,4-探测器聚光透镜,5-光栅,6-滤光器,7-光纤连接器,8-振动传感器A,9-聚焦镜支架,10-聚焦镜,11-振动传感器B,12-准直镜支架,13-准直镜,14-振动传感器C,15-振动传感器D,16-光谱信号输出线,17-机体。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明,本发明的实施方式包括但不限于下列实施例。

实施例:为了实现上述目的,本发明采用的技术方案如下:

如图1所示,本发明提供一种考虑振动影响的精密光谱仪,包括逻辑控制单元1、振动信号输出线2、探测器3、探测器聚光透镜4、光栅5、滤光器6、光纤连接器7、振动传感器A8、聚焦镜支架9、聚焦镜10、振动传感器B11、准直镜支架12、准直镜13、振动传感器C14、振动传感器D15、光谱信号输出线16和机体17,光纤连接器7安装在机体17的右壁外侧且其左端与滤光器6相连,准直镜13安装在与滤光器6相对的机体17壁面的准直镜支架12上,光栅5安装在机体17内壁上且其与滤光器6相邻,聚焦镜10安装在聚焦镜支架9上,探测器聚光透镜4安装在探测器3上,逻辑控制单元1安装在探测器3的后面。

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