[发明专利]一种考虑振动影响的精密光谱仪在审
| 申请号: | 201510571164.4 | 申请日: | 2015-09-08 |
| 公开(公告)号: | CN105181138A | 公开(公告)日: | 2015-12-23 |
| 发明(设计)人: | 蔡元学 | 申请(专利权)人: | 天津科技大学 |
| 主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28 |
| 代理公司: | 天津市新天方有限责任专利代理事务所 12104 | 代理人: | 李桂英 |
| 地址: | 300222 天*** | 国省代码: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 考虑 振动 影响 精密 光谱仪 | ||
1.一种考虑振动影响的精密光谱仪,其特征在于:包括逻辑控制单元、振动信号输出线、探测器、探测器聚光透镜、光栅、滤光器、光纤连接器、振动传感器A、聚焦镜支架、聚焦镜、振动传感器B、准直镜支架、准直镜、振动传感器C、振动传感器D、光谱信号输出线和机体,所述光纤连接器安装在所述机体的右壁外侧且其左端与所述滤光器相连,所述准直镜安装在与所述滤光器相对的所述机体壁面的所述准直镜支架上,所述光栅安装在所述机体内壁上且其与所述滤光器相邻,所述聚焦镜安装在所述聚焦镜支架上,所述探测器聚光透镜安装在所述探测器上,所述逻辑控制单元安装在所述探测器的后面。
2.根据权利要求1所述的一种考虑振动影响的精密光谱仪,其特征在于:光线从所述光纤连接器进入,依次经过所述滤光器、准直镜、光栅、聚焦镜和探测器聚光透镜。
3.根据权利要求1所述的一种考虑振动影响的精密光谱仪,其特征在于:所述振动传感器A、振动传感器B、振动传感器C和振动传感器D分别安装在所述机体外底面的四个角上。
4.根据权利要求1所述的一种考虑振动影响的精密光谱仪,其特征在于:所述振动信号输出线一端安装在所述机体内部的所述逻辑控制单元上,另一端与所述机体外部的PC主机相连。
5.根据权利要求1所述的一种考虑振动影响的精密光谱仪,其特征在于:所述光谱信号输出线一端安装在所述机体内部的所述探测器上,另一端与所述机体外部的ICCD探测器或PC主机相连。
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