[发明专利]相位差膜以及包括该相位差膜的偏振片在审

专利信息
申请号: 201510468994.4 申请日: 2015-08-03
公开(公告)号: CN105319640A 公开(公告)日: 2016-02-10
发明(设计)人: 许智惠;李济赫 申请(专利权)人: 东友精细化工有限公司
主分类号: G02B5/30 分类号: G02B5/30
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 丁香兰;庞东成
地址: 韩国全*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 相位差 以及 包括 偏振
【说明书】:

技术领域

本发明涉及相位差膜以及包括该相位差膜的偏振片,具体涉及能够抑制在制造工序中产生的不均缺陷的相位差膜以及包括该相位差膜的偏振片。

背景技术

相位差膜可用于多种用途。具体而言,在液晶显示装置中可用于消除图像的着色,或用于放大视野角,而在有机发光元件中可用于防止反射或校正偏振片的色相。进而,在触摸面板中,可用于通过降低外部光反射以提升视觉确认性。

然而,上述相位差膜有时由于在制造工序中产生的错误或制造不良等而产生斑点图案的不均缺陷,在进行面板的视觉确认性评价时会成为问题。

然而,迄今为止,尚未知晓能够有效抑制相位差膜的不均产生的方法。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本公开专利平10-312166号

发明内容

发明要解决的问题

本发明就是为了解决上述的问题点而完成的,其目的之一在于,提供一种能够抑制在制造工序中产生的不均缺陷的相位差膜。

本发明的另一个目的在于,提供一种通过在偏振元件上层积上述相位差膜而构成的偏振片。

本发明的另一个目的在于,提供一种通过包括上述偏振片而构成的图像显示装置。

用于解决问题的手段

另一方面,本发明提供一种相位差膜,其全宽相位差为5nm以下,并且全宽相位差的离差(dispersion)为1.5nm以下。

在本发明的一个实施方式中,上述相位差膜的部分相位差的离差为1nm以下。

在本发明的一个实施方式中,上述相位差膜是λ/4相位差膜。

另外,本发明提供一种由上述相位差膜层积于偏振元件而构成的偏振片。

此外,本发明提供一种通过包括上述偏振片而构成的图像显示装置。

发明的效果

本发明的相位差膜能够抑制在制造工序中产生的不均缺陷,以改善显示器面板的视觉确认性。

附图说明

图1是示意性表示本发明一个实施方式的偏振片的截面图。

图2是示意性表示本发明的另一个实施方式的偏振片的截面图。

符号说明

100、200:偏振片,110、210:保护膜,120、220:偏振元件,125、135、225:粘结剂层,130、230:相位差膜

具体实施方式

以下,进一步详细说明本发明。

本发明的一个实施方式涉及全宽相位差为5nm以下、并且全宽相位差的离差(dispersion)为1.5nm以下的相位差膜。

在本发明的一个实施方式中,上述全宽相位差可以为2nm以下,全宽相位差的离差可以为1nm以下。

本发明一个实施方式的相位差膜的特征在于,部分相位差的离差为1nm以下。

本发明中,全宽相位差意味着,对相位差膜的整体宽度进行测定而得到的面内相位差;而部分相位差意味着,以整体宽度作为基准,在与左侧部、中央部或右侧部相距15mm的局部以3mm的间隔在5个位置测定得到的面内相位差。

上述面内相位差Re是通过下式1定义的值。

【数1】

Re=(nx-ny)×d

上述式中,

nx表示在膜的面内示出最大折射率的轴(慢轴)方向的折射率,

ny表示与上述慢轴正交的方向的折射率,

d表示膜的厚度(nm)。

本发明中,测定相位差膜的面内相位差的方法不做特别限定,例如可以通过在后述的实验例中提示的方法进行测定。

在本发明的一个实施方式中,将相位差膜的全宽相位差调节为5nm以下,将全宽相位差的离差调节为1.5nm以下,优选将全宽相位差调节为2nm以下,将全宽相位差的离差调节为1nm以下,从而能够抑制在制造工序中产生的不均缺陷。

在本发明的另一个实施方式中,将相位差膜的全宽相位差调节为5nm以下,将全宽相位差的离差调节为1.5nm以下,并且将部分相位差的离差调节为1nm以下,从而能够抑制在制造工序中产生的不均缺陷。

本发明一个实施方式的相位差膜可以是λ/4相位差膜。

上述λ/4相位差膜意味着承担下述作用的膜:对通过偏振元件且偏振的线偏振光赋予相当于1/4波长的相位差,使上述线偏振光变为圆偏振光。

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