[发明专利]一种光电传感器冷压焊倒装互连方法有效
申请号: | 201510449230.0 | 申请日: | 2015-07-28 |
公开(公告)号: | CN105140337B | 公开(公告)日: | 2017-03-08 |
发明(设计)人: | 胡旭;杨春丽;吴思晋;封远庆;铁晓滢 | 申请(专利权)人: | 昆明物理研究所 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 昆明正原专利商标代理有限公司53100 | 代理人: | 金耀生 |
地址: | 650223 云*** | 国省代码: | 云南;53 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光电 传感器 冷压焊 倒装 互连 方法 | ||
1.一种光电传感器冷压焊倒装互连方法,其特征在于经过下列各步骤:
第一步、在玻璃基底上用蜡粘接光电敏感单元,并在光电敏感单元上通过常规沉积方法间隔设置厚度为200~500nm的第一粘接金属,再在第一粘接金属表面通过常规沉积方法设置厚度2000~4000nm的第一粘接金属,得到光电敏感元;
第二步、在信号放大读出电路上通过常规沉积方法间隔设置厚度为200~500nm的第二粘接金属,再在第二粘接金属表面通过常规沉积方法设置厚度为5000~8000nm的第二粘接金属,使成型后的第二粘接金属的上端面的面积为光电敏感元上第一粘接金属面积的25~50%,得到信号处理元;
第三步、将第二步所得信号处理元的第二粘接金属和第一步所得光电敏感元的第一粘接金属对准,并在室温下施加3~4Kg的压力,持续时间为5~10min完成冷压焊,使信号处理元的第二粘接金属发生形变,并嵌入到光电敏感元的第一粘接金属中,再去除玻璃基底和蜡,即得到倒装互连的光电传感器。
2.根据权利要求1所述的光电传感器冷压焊倒装互连方法,其特征在于:所述第一粘接金属和第二粘接金属为CrAu合金、Cr、Ti、TiAu合金中的任意一种。
3.根据权利要求1所述的光电传感器冷压焊倒装互连方法,其特征在于:所述第一粘接金属和第二粘接金属为In、Se、InSe合金、PbSe合金中的任意一种。
4.根据权利要求1所述的光电传感器冷压焊倒装互连方法,其特征在于:所述第二步中使成型后的第二粘接金属的上端面的面积为光电敏感元上第一粘接金属面积的25~50%,是通过常规离子束刻蚀、反应等离子体刻蚀、化学腐蚀或电感耦合等离子体刻蚀的方法,对第二粘接金属的上端面进行刻蚀,以使上端面的面积为光电敏感元上第一粘接金属面积的25~50%。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆明物理研究所,未经昆明物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510449230.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种GaN基发光二极管芯片的制备方法
- 下一篇:薄膜晶体管及其制备方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的