[发明专利]一种测量电容式触摸屏触摸响应时间的方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种触摸屏测试技术，尤其是一种电容式触摸屏触摸响应时间测量技术，具体地说是一种测量电容式触摸屏触摸响应时间的方法和装置。

背景技术

电容式触摸屏已广泛应用于手持终端和各类显示器，但用户体验各不相同，而触摸响应时间是影响用户体验的重要性能指标之一，因此，对电容式触摸屏进行触摸响应时间的测量显得尤为重要。

目前对电容式触摸屏响应时间的测试方法不多，关键在于触摸起始时刻的获取。一种方法是用金属棒先接触触摸屏，再用导线将金属棒接地来获取触摸起始时刻，这种方法测量稳定性很差，金属棒的尺寸很难确定。有时金属棒即使不接地，也有触摸数据输出；有时即使金属棒接地，却没有触摸数据输出，这种方法实用价值较低。另一种测量方法是采用高速摄像机拍摄金属棒接触触摸屏表面的时间点及触摸屏响应时刻这两个时间点，两个时间点的差值即为触摸响应时间，但这种方法成本很高。还有的是采用振动传感器来获得触摸起始时刻，这种方法具有延时，测量不太准确。

发明内容

本发明的目的是针对现有的电容式触摸屏响应时间测量装置存在的精度不高或精度高成本大的问题，提供一种测量电容式触摸屏触摸响应时间的方法和装置，旨在用低成本实现对电容式触摸屏触摸响应时间的可靠测量。

本发明的技术方案之一是：

一种测量电容式触摸屏触摸响应时间的方法，其特征在于它包括以下步骤：

步骤1，在电容式触摸屏的触摸面上贴装一片导电布或导电金属膜；

步骤2，利用相互绝缘的金属触摸棒和第一测量探头组成一个组合探头，使金属触摸棒的一端接地，第一测量探头通过一上拉电阻接电源；

步骤3，使电容式触摸屏连接一触控芯片，并使触控芯片的信号输出端与第二测量探头相连；

步骤4，将第一测量探头和第二测量探头的输出端均与信号采集装置相连；

步骤5，使组合探头接触贴于触摸屏触摸面上的导电布或导电金属膜，信号采集装置经过第一测量探头获取触摸起始时刻T1；

步骤6，信号采集装置经第二测量探头测量触控芯片的输出信号，获得触摸数据输出时刻T2；

步骤7，在信号采集装置上读取时刻T2和T1，即得到所述电容式触摸屏的响应时间为T2-T1。

所述组合探头接触到贴于触摸屏表面的导电布或导电金属膜时，金属触摸棒将地电平传递给导电布或导电金属膜，同时将地电平传递给第一测量探头，使电容式触摸屏感应到了金属触摸棒的触摸，第一测量探头的电平由高变为地，信号采集装置经第一测量探头检测到电压由高变为地这一信号下降沿，信号下降沿的起始时刻作为触摸开始时刻T1。

所述的触控芯片识别触摸动作，计算出触摸位置，发出触摸数据中断信号；信号采集装置经第二测量探头检测到触摸数据中断信号，该信号的起始时刻为T2。

本发明的技术方案之二是：

一种测量电容式触摸屏触摸响应时间的装置，其特征在于它包括一片贴在电容式触摸屏触摸面上的导电布或导电金属膜、金属触摸棒、信号采集装置、第一测量探头、第二测量探头和触控芯片；所述金属触摸棒通过导线接地；所述第一测量探头和第二测量探头的信号输出端均与所述的信号采集装置电气连接；所述第一测量探头通过一个上拉电阻与测量电源电气连接；所述的第一测量探头与所述金属触摸棒固定在一起构成组合探头，两者之间绝缘，并且第一测量探头的测试端与金属触摸棒的触摸端面平齐；所述导电布或导电金属膜的大小能将组合探头中的第一测量探头与金属触摸棒连通，所述的第二测量探头的信号输入端与触控芯片的信号输出端相连，用于识别触摸动作、计算出触摸位置并发出触摸数据中断信号的触控芯片与电容式触摸器件电气连接。

所述的电源为2.8V～5V电源，所述的上拉电阻的阻值为1kΩ～100kΩ。

所述导电布或导电金属膜为便于粘贴在电容式触摸器件表面的带背胶的导电布或导电金属膜，它的面积以不引起误触摸、金属触摸棒接触导电布或导电金属膜后能正确触摸。

详述如下：