[发明专利]一种测量电容式触摸屏触摸响应时间的方法和装置

权利要求书

1.一种测量电容式触摸屏触摸响应时间的方法，其特征在于它包括以下步骤：

步骤1，在电容式触摸屏的触摸面上贴装一片导电布或导电金属膜；

步骤2，利用相互绝缘的金属触摸棒和第一测量探头组成一个组合探头，使金属触摸棒的一端接地，第一测量探头通过一上拉电阻接电源；所述组合探头接触到贴于触摸屏触摸面的导电布或导电金属膜时，金属触摸棒将地电平传递给导电布或导电金属膜，同时将地电平传递给第一测量探头，使电容式触摸屏感应到了金属触摸棒的触摸，第一测量探头的电平由高变为地，信号采集装置经第一测量探头检测到电压由高变为地这一信号下降沿，信号下降沿的起始时刻作为触摸开始时刻T1；

步骤3，使电容式触摸屏连接一触控芯片，并使触控芯片的信号输出端与第二测量探头相连；

步骤4，将第一测量探头和第二测量探头的输出端均与信号采集装置相连；

步骤5，使组合探头接触贴于触摸屏触摸面上的导电布或导电金属膜，信号采集装置经过第一测量探头获取触摸起始时刻T1；

步骤6，信号采集装置经第二测量探头测量触控芯片的输出信号，获得触摸数据输出时刻T2；

步骤7，在信号采集装置上读取时刻T2和T1，即得到所述电容式触摸屏的响应时间为T2-T1。

2.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于所述的触控芯片识别触摸动作，计算出触摸位置，发出触摸数据中断信号；信号采集装置经第二测量探头检测到触摸数据中断信号，该信号的起始时刻为T2。

3.一种测量电容式触摸屏触摸响应时间的装置，其特征在于它包括一片贴在电容式触摸屏触摸面上的导电布或导电金属膜、金属触摸棒、信号采集装置、第一测量探头、第二测量探头和触控芯片；所述金属触摸棒通过导线接地；所述第一测量探头和第二测量探头的信号输出端均与所述的信号采集装置电气连接；所述第一测量探头通过一个上拉电阻与测量电源电气连接；所述的第一测量探头与所述金属触摸棒固定在一起构成组合探头，两者之间绝缘，并且第一测量探头的测试端与金属触摸棒的触摸端面平齐；所述导电布或导电金属膜的大小能将组合探头中的第一测量探头与金属触摸棒连通，所述的第二测量探头的信号输入端与触控芯片的信号输出端相连，用于识别触摸动作、计算出触摸位置并发出触摸数据中断信号的触控芯片与电容式触摸屏电气连接。

4.根据权利要求3所述的测量装置，其特征是所述的电源为2.8V～5V电源，所述的上拉电阻的阻值为1kΩ～100kΩ。

5.根据权利要求3所述的测量装置，其特征是所述导电布或导电金属膜为便于粘贴在电容式触摸屏表面的带背胶的导电布或导电金属膜，它的面积以不引起误触摸、金属触摸棒接触导电布或导电金属膜后能正确触摸为准。