[发明专利]电接点材料及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201480074640.5 申请日: 2014-02-05
公开(公告)号: CN105940463B 公开(公告)日: 2018-01-02
发明(设计)人: 小林良聪;铃木智 申请(专利权)人: 古河电气工业株式会社
主分类号: H01B5/02 分类号: H01B5/02;C25D5/10;C25D7/00;H01B1/02;H01B13/00;H01H1/04;H01H1/06
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司11127 代理人: 庞东成
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 接点 材料 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种电接点材料,该电接点材料在导电性基体的表面上具有第1贵金属层,在所述第1贵金属层的表面上具有第2贵金属层,

该电接点材料的特征在于,

所述第1贵金属层的表面的算术平均粗糙度Ra=Aμm、且A<1,并且该第1贵金属层的硬度Hv为150以上,

所述第2贵金属层为金镀层,其厚度超过Aμm且为1μm以下,并且该第2贵金属层的表面的算术平均粗糙度Ra=Bμm、且B≤0.1,

所述导电性基体的母相的平均晶粒尺寸为1μm以下,在镀层中晶界扩散分散,

利用电镀法设置所述第1贵金属层和第2贵金属层中的至少一层。

2.如权利要求1所述的电接点材料,其中,所述A的值为0.001以上且小于0.500。

3.如权利要求1所述的电接点材料,其中,所述第1贵金属层由金、金合金、银、银合金、铂、铂合金、铟、铟合金、锡、锡合金、钯、钯合金、钌、钌合金、铑、铑合金、锇、锇合金、铱、铱合金中的任一种构成。

4.如权利要求1所述的电接点材料,其中,所述第1贵金属层由钯、钯合金、钌、钌合金、铑、铑合金、锇、锇合金、铱、铱合金中的任一种构成。

5.如权利要求1所述的电接点材料,其中,在所述导电性基体与所述第1贵金属层之间具有至少1层基底金属层。

6.如权利要求5所述的电接点材料,其中,所述基底金属层由镍、镍合金、钴、钴合金中的任一种构成。

7.如权利要求5所述的电接点材料,其中,所述基底金属层的厚度为0.05μm~3.00μm。

8.如权利要求1~7中任一项所述的电接点材料,其中,所述导电性基体由铜、铜合金、铁、铁合金、铝、铝合金中的任一种构成。

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