[发明专利]电接点材料及其制造方法有效
| 申请号: | 201480074640.5 | 申请日: | 2014-02-05 |
| 公开(公告)号: | CN105940463B | 公开(公告)日: | 2018-01-02 |
| 发明(设计)人: | 小林良聪;铃木智 | 申请(专利权)人: | 古河电气工业株式会社 |
| 主分类号: | H01B5/02 | 分类号: | H01B5/02;C25D5/10;C25D7/00;H01B1/02;H01B13/00;H01H1/04;H01H1/06 |
| 代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 庞东成 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 接点 材料 及其 制造 方法 | ||
1.一种电接点材料,该电接点材料在导电性基体的表面上具有第1贵金属层,在所述第1贵金属层的表面上具有第2贵金属层,
该电接点材料的特征在于,
所述第1贵金属层的表面的算术平均粗糙度Ra=Aμm、且A<1,并且该第1贵金属层的硬度Hv为150以上,
所述第2贵金属层为金镀层,其厚度超过Aμm且为1μm以下,并且该第2贵金属层的表面的算术平均粗糙度Ra=Bμm、且B≤0.1,
所述导电性基体的母相的平均晶粒尺寸为1μm以下,在镀层中晶界扩散分散,
利用电镀法设置所述第1贵金属层和第2贵金属层中的至少一层。
2.如权利要求1所述的电接点材料,其中,所述A的值为0.001以上且小于0.500。
3.如权利要求1所述的电接点材料,其中,所述第1贵金属层由金、金合金、银、银合金、铂、铂合金、铟、铟合金、锡、锡合金、钯、钯合金、钌、钌合金、铑、铑合金、锇、锇合金、铱、铱合金中的任一种构成。
4.如权利要求1所述的电接点材料,其中,所述第1贵金属层由钯、钯合金、钌、钌合金、铑、铑合金、锇、锇合金、铱、铱合金中的任一种构成。
5.如权利要求1所述的电接点材料,其中,在所述导电性基体与所述第1贵金属层之间具有至少1层基底金属层。
6.如权利要求5所述的电接点材料,其中,所述基底金属层由镍、镍合金、钴、钴合金中的任一种构成。
7.如权利要求5所述的电接点材料,其中,所述基底金属层的厚度为0.05μm~3.00μm。
8.如权利要求1~7中任一项所述的电接点材料,其中,所述导电性基体由铜、铜合金、铁、铁合金、铝、铝合金中的任一种构成。
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