[发明专利]探头、超声波探伤装置以及超声波探伤控制方法有效

专利信息
申请号: 201480052282.8 申请日: 2014-09-03
公开(公告)号: CN105579841B 公开(公告)日: 2019-03-29
发明(设计)人: 竹本浩;植松充良;川浪精一 申请(专利权)人: 三菱重工业株式会社
主分类号: G01N29/24 分类号: G01N29/24;G01N29/04;G01N29/26;H04R17/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 岳雪兰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 探头 超声波 探伤 装置 以及 控制 方法
【说明书】:

一种探头(21),具有:长度方向的长度比宽度方向的长度长的发送接收面(30);以及设置在发送接收面(30)上的多个超声波元件(31),所述探头(21)一边相对于与发送接收面(30)相对的被检查对象的被检查面在宽度方向上移动,一边照射超声波,各个超声波元件(31)形成为在长度方向以及宽度方向上长度相同的形状,多个超声波元件(31)在长度方向上排列设置,且在宽度方向上排列设置,以一个以上的超声波元件(31)为规定的照射单位,在整个长度方向上多次照射超声波。

技术领域

本发明涉及一种探头、超声波探伤装置以及超声波探伤控制方法,所述探头向被检查对象照射超声波,并对从被检查对象反射的超声波进行接收。

背景技术

以往,作为照射超声波的探头,众所周知有一种超声波探头,其具有排列成阵列状的多个压电振子(例如,参照专利文献1)。该超声波探头的多个压电振子沿阵列方向以规定螺距排列。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本专利特许第3505296号公报

发明内容

发明要解决的课题

然而,在专利文献1的超声波探头中,在阵列方向上排列的多个超声波元件(压电振子)的其中一个超声波元件中,当被检查对象的被检查面发生倾斜时,具体而言,在一个超声波元件的与阵列方向垂直的切开方向上,当被检查面的一侧与另一侧的高低差变大时,导致超声波元件与被检查面之间的距离在切开方向上产生偏差,探伤检查所得到的检查结果有可能会产生误差。特别是,当具有被检查面的被检查对象由具有声学异向性的材料构成时,如果距离的偏差导致超声波的照射方向有所不同,则会导致在被检查对象内部传播的超声波产生偏差,可能更易产生误差。

因此,本发明提供了一种即使在被检查对象的被检查面相对于探头的发送接收面倾斜的情况下,也能够稳定地照射超声波的探头、超声波探伤装置以及超声波探伤控制方法。

技术方案

本发明的探头,具有:长度方向的长度比宽度方向的长度长的发送接收面;以及设置在所述发送接收面上的多个超声波元件,所述探头一边相对于与所述发送接收面相对的被检查对象的被检查面在所述宽度方向上移动,一边照射超声波,其特征在于,所述各个超声波元件形成为在所述长度方向以及所述宽度方向上长度相同的形状,所述多个超声波元件在所述长度方向上排列设置,且在所述宽度方向上排列设置,以一个以上的所述超声波元件为规定的照射单位,在整个所述长度方向上多次照射超声波。

根据该结构,由于能够将各个超声波元件的形状设定为在长度方向以及宽度方向上长度相同,因此即使在与超声波元件相对的被检查面发生倾斜的情况下,也能够减小宽度方向的一侧与另一侧的高低差。因此,能够抑制超声波元件与被检查面之间的距离在宽度方向上的偏差,并且能够稳定地向被检查面照射超声波。并且,作为在长度方向以及宽度方向上长度相同的形状,可以是例如正方形等的多边形或圆形等。

另外,优选所述多个超声波元件具有:第1超声波元件组,其配置为在所述长度方向上排成一列;以及第2超声波元件组,其配置为与所述第1超声波元件组在所述宽度方向上相邻,且在所述长度方向上排成一列,其中,所述第1超声波元件组的所述各个超声波元件在所述长度方向上位于所述第2超声波元件组的相邻所述超声波元件的中间,所述照射单位为一个所述超声波元件。

根据该结构,能够以一个超声波元件为照射单位,使第1超声波元件组的各个超声波元件与第2超声波元件组的各个超声波元件沿长度方向交替照射超声波。这时,第1超声波元件组的超声波元件在长度方向上位于第2超声波元件组的相邻超声波元件的中间。因此,能够以比各个超声波元件组的超声波元件之间的间隔还要短的间隔照射超声波,从而能够在长度方向上进行详细的超声波探伤。

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