[实用新型]齿轮外形两坐标测量自动控制设备有效
| 申请号: | 201420345913.2 | 申请日: | 2014-06-25 |
| 公开(公告)号: | CN203964899U | 公开(公告)日: | 2014-11-26 |
| 发明(设计)人: | 姜文喜 | 申请(专利权)人: | 西安微电机研究所 |
| 主分类号: | G01B21/20 | 分类号: | G01B21/20 |
| 代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 徐文权 |
| 地址: | 710077*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 齿轮 外形 坐标 测量 自动控制 设备 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种测试设备,具体涉及一种齿轮外形两坐标测量自动控制设备。
背景技术
中、小型齿轮的精密测量仪器已有很多种类,且功能齐全。当今,直径小于2.5m的齿轮,测量技术发展迅速,相继研制了各种精密齿轮测量器,测量技术已相当成熟,以齿轮测量机为主导的各种测量仪器完全可以完成其各项误差的测量。
外径大于500mm的大型齿轮受其几何尺寸与机械性能的影响,其测量难度远大于中、小型齿轮。大齿轮的测量难点在于:尺寸超大;齿数多;测量基准选择困难;惯性问题突出。
对于大齿轮的测量,微电子技术,激光技术已被采用。大型齿轮的尺寸、重量都很大,致使测量仪器的尺寸结构大,安装定位困难,测量效率低。
实用新型内容
本实用新型的目的在于,针对现有技术存在的不足,提供一种结构简单、测量精确、成本较低的齿轮外形两坐标测量自动控制设备。
为实现上述目的,本实用新型采用以下技术方案:包括控制系统和与其相连接的测量系统,所述测量系统包括并联的两组测量机,所述测量机包括相互垂直的Y轴滑轨和设置有滑板的X轴滑轨;所述Y轴滑轨的一端设置有Y轴电机,所述Y轴电机的转轴与设置有Y轴丝杠螺母副的Y轴丝杠相连接;所述Y轴丝杠螺母副通过连接杆与X轴滑轨相连接;所述X轴滑轨的一端设置有X轴电机,X轴电机的转轴与设置有X轴丝杠螺母副的X轴丝杠相连接,X轴丝杠螺母副固定在设置有测头的滑板上;
所述控制系统包括可编程控制器,以及与其相连接的显示终端、开关电源;所述可编程控制器分别与X轴电机、Y轴电机相连接,并通过通讯板与测头相连接。
进一步的,所述X轴电机和Y轴电机分别通过联轴器与X轴丝杠、Y轴丝杠相连接。
进一步的,所述X轴丝杠、Y轴丝杠的两端分别设置有轴承。
进一步的,所述电机为步进电机。
进一步的,所述可编程控制器还与手脉相连接。
进一步的,所述通讯板采用RS485。
进一步的,所述测头采用点触式测量头。
与现有技术相比,本实用新型的结构简单,简化了测量仪器的整体结构,有效的减小了尺寸,并且具有通用性,通过设置两组测量机,能够实现对中、大齿轮进行就地测量;通过设置X轴滑轨和Y轴滑轨,实现了实现精密线位移测量。由于整体结构简单,有效的降低了成本。
进一步的,通过使用联轴器,使得电机与丝杠的连接更加稳定。
进一步的,通过设置轴承,使得丝杠能够更加稳定的做旋转运动。
进一步的,通过设置手脉,可以实现手动操作和自动操作的切换,增加了整体设备使用的灵活性。
附图说明
图1为本实用新型的测量机结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型做进一步详细描述:
本实用新型包括控制系统和与其相连接的测量系统,参见图1,测量系统包括并联的两组测量机,每组测量机包括相互垂直的Y轴滑轨2和设置有滑板的X轴滑轨1;所述Y轴滑轨2的一端设置有Y轴电机3,Y轴电机3的转轴通过联轴器12与设置有Y轴丝杠螺母副4的Y轴丝杠5相连接;Y轴丝杠螺母副4通过连接杆6与X轴滑轨1相连接;X轴滑轨1的一端设置有X轴电机7,X轴电机7的转轴通过联轴器12与设置有X轴丝杠螺母副8的X轴丝杠9相连接,X轴丝杠螺母副8固定在设置有测头11的滑板上10;X轴丝杠9、Y轴丝杠5的两端分别设置有轴承13,X轴电机、Y轴电机采用步进电机。控制系统包括可编程控制器,以及与其相连接的显示终端、开关电源、手脉;所述可编程控制器分别与X轴电机7、Y轴电机3相连接,并通过通讯板与测头11相连接。通讯板采用RS485。测头采用高精度点触式。
测量系统由两套测量机构成,但每次只有一套测量机运行。测量机的选择是通过可编程控制器实现的。测头安装在X轴滑台上,通过控制X和Y轴滑台的移动实现测量。测量值通过RS485通讯发送至PC机,同时在操作面板的文本显示器上显示X和Y坐标的当前值和对应的测量序号。在操作面板上可以设置手动/自动运行。自动运行是通过文本显示器上设置自动运行参数和测量运行的X和Y轴坐标速度来实现。手动运行是通过手脉操作来实现的。
本实用新型有以下优点:
(1)具有通用性,中、大型齿轮就地测量;
(2)简化测量仪器的结构,减小其结构尺寸;
(3)实现精密线位移测量;
(4)降低测量仪器的成本;
由此可见,这种结构能够适应当今大齿轮测量的发展需要。
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