[实用新型]一种生长在Si衬底上的GaN薄膜有效
申请号: | 201420307702.X | 申请日: | 2014-06-10 |
公开(公告)号: | CN203910838U | 公开(公告)日: | 2014-10-29 |
发明(设计)人: | 李国强 | 申请(专利权)人: | 广州市众拓光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/02 | 分类号: | H01L33/02;H01L33/32 |
代理公司: | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人: | 汤喜友 |
地址: | 510000 广东省广州市广州*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 生长 si 衬底 gan 薄膜 | ||
技术领域
本实用新型涉及GaN薄膜,特别是涉及一种生长在Si衬底上的GaN薄膜。
背景技术
发光二极管(LED)作为一种新型固体照明光源和绿色光源,具有体积小、耗电量低、环保、使用寿命长、高亮度、低热量以及多彩等突出特点,在室外照明、商业照明以及装饰工程等领域都具有广泛的应用。在全球气候变暖问题日趋严峻的背景下,节约能源、减少温室气体排放成为全球共同面对的重要问题,以低能耗、低污染、低排放为基础的低碳经济,将成为经济发展的重要方向。在照明领域,LED发光产品的应用正吸引着世人的目光,LED作为一种新型的绿色光源产品,必然是未来发展的趋势,二十一世纪将是以LED为代表的新型照明光源的时代。但是现阶段LED的应用成本较高,发光效率较低,这些因素都会大大限制LED向高效节能环保的方向发展。
III-族氮化物GaN(氮化镓)在电学、光学以及声学上具有极其优异的性质,近几年受到广泛关注。GaN是直接带隙材料,且声波传输速度快,化学和热稳定性好,热导率高,热膨胀系数低,击穿介电强度高,是制造高效的LED器件的理想材料。目前,GaN基LED的发光效率现在已经达到28%并且还在进一步的增长,该数值远远高于目前通常使用的白炽灯(约为2%)或荧光灯(约为10%)等照明方式的发光效率。数据统计表明,我国目前的照明用电每年在4100亿度以上,超过英国全国一年的用电量。如果用LED取代全部白炽灯或部分取代荧光灯,可节省接近一半的照明用电,超过三峡工程全年的发电量。因照明而产生的温室气体排放也会因此而大大降低。另外,与荧光灯相比,GaN基LED不含有毒的汞元素,且使用寿命约为此类照明工具的100倍。
通常GaN基LED制备所使用的衬底为蓝宝石以及SiC。但由于蓝宝石衬底价格较高,导致现阶段LED芯片价格处于一个较高的水平。其次,由于蓝宝石热导率低(100℃时为25W/m.K),很难将芯片内产生的热量及时排出,导致热量积累,降低了器件的内量子效率,从而最终影响器件的性能。对于SiC而言,虽然不存在上述的缺点,但高昂的价格制约了它的应用;另外,SiC衬底制备GaN基LED的专利只掌握在少数的外国公司手上。因此我们迫切需要寻找一种价格低廉,具有高热导率的新型衬底。
Si衬底由于具有成熟的制备工艺,高的结晶质量,以及低廉的价格,高达100W/m.K的热导率,成为了制备GaN基LED器件衬底最好的选择之一。但与GaN之间巨大的晶格失配(16.9%)及热失配(54%),会在生长过程中产生大量的穿透位错,甚至在降温过程中产生引入张引力而产生裂纹。这正是制约Si衬底制备LED器件的主要问题。
实用新型内容
为了克服现有技术的不足,本实用新型的目的在于提供一种生长在Si衬底上的GaN薄膜,本实用新型解决了在Si衬底上生长GaN薄膜过程中产生大量穿透位错的问题,使得生长在Si衬底上的GaN薄膜结构更加稳定,克服了热应力失配给GaN薄膜造成裂纹的技术问题。
为解决上述问题,本实用新型所采用的技术方案如下:
一种生长在Si衬底上的GaN薄膜,包括Si衬底、AlN成核层、AlxGa1-xN步进缓冲层、AlN插入层、GaN成核层和GaN薄膜,所述AlN成核层、AlxGa1-xN步进缓冲层、AlN插入层、GaN成核层和GaN薄膜依次生长在Si衬底上,其中,x为0-1。
优选的,所述Si衬底以(111)晶面为外延面,晶体外延取向关系为:GaN(0001)晶面平行于Si(111)晶面,所述AlN成核层生长在Si(111)晶面上。
优选的,所述AlxGa1-xN步进缓冲层包括Al0.75Ga0.25N步进缓冲层、Al0.5Ga0.5N步进缓冲层和Al0.25Ga0.75N步进缓冲层,所述Al0.75Ga0.25N步进缓冲层、Al0.5Ga0.5N步进缓冲层和Al0.25Ga0.75N步进缓冲层从下到上依次生长在AlN成核层与AlN插入层之间。
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