[实用新型]防止MSOP封装集成电路的滑道堵料的下料装置有效
申请号: | 201420102214.5 | 申请日: | 2014-03-07 |
公开(公告)号: | CN203826357U | 公开(公告)日: | 2014-09-10 |
发明(设计)人: | 谢泽彪;杨甫;王鑫 | 申请(专利权)人: | 气派科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙岗区平湖街道禾*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 防止 msop 封装 集成电路 滑道 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种集成电路封装的下料装置,更具体的说,涉及一种防止MSOP封装集成电路的滑道堵料的下料装置。
背景技术
在现有技术的集成电路封装工艺中,下料滑道由8个轨道组成,每个轨道对应每排产品,由于MSOP系列产品体积较小,经分离后在滑道中运行时容易发生倾斜,导致卡在滑道内,即使增加吹气动作也无济于事,造成设备产能下降,影响产品质量。当分离后的产品被排出推杆从分离模推出后进入轨道,在运行的轨道中产品发生倾斜,导致卡在滑道内,不能装入盒中,设备报错频繁,被卡的产品也很容易造成缺损,弯脚断脚等不良,严重影响了设备的产能及封装良率,为了使这一现象尽快得到有效的改善和改进,在公司技术团队的努力下,将原有的下料滑道进行改进,提高了设备的产能,又减少了生产过程中的报废。
发明内容
本实用新型的技术目的是克服现有技术中,集成电路封装时,MSOP系列盒装产品滑道堵料进而引发设备报错,影响设备生产效率和产品不良率上升的技术问题,提供一种消除产品在滑道中运行的阻力,提高良品率和设备生产效率的防止MSOP封装集成电路的滑道堵料的下料装置。
为实现以上技术目的,本实用新型的技术方案是:
防止MSOP封装集成电路的滑道堵料的下料装置,包括有一整体滑道,所述滑道上设有一有机玻璃盖板。
更进一步的,所述整体滑道呈倾斜设置。
更进一步的,所述倾斜角度为5度。
在本实用新型的应用中,针对上述产品在滑道中倾斜导致卡在滑道内的问题,取消8个滑道,将其挖通,形成一整体滑道,并使用有机玻璃盖板盖起来,
本实用新型的有益技术效果是:分离的产品推出后利用惯性直接将产品滑进收料盒内,这样产品既不被卡住,提高了设备的产能,也减少了不良品的产生,将产品报废每月的发生概率降低了33.6%。
附图说明
图1是本实用新型一个实施例的结构示意图。
图2是本实用新型一个实施例的侧面结构示意图。
具体实施方式
结合图1,详细说明本实用新型的具体实施方式,防止MSOP封装集成电路的滑道堵料的下料装置,包括有一整体滑道100,所述滑道上设有一有机玻璃盖板101。在实施中,整体滑道呈倾斜设置。所述倾斜角度为5至10度。
在本实用新型的应用中,针对上述产品在滑道中倾斜导致卡在滑道内的问题,取消8个滑道,将其挖通,形成一整体滑道,并使用有机玻璃盖板盖起来,可观看到其中的下料状态。
本实用新型提高了设备的产能,也减少了不良品的产生,是本领域一个既实用又新型的技术改进。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造