[发明专利]具有增大的故障覆盖率的集成电路

权利要求书

1.一种用于增大集成电路IC设计的故障覆盖率的电子设计自动化EDA工具，其中所述IC设计包含与所述IC设计的多个逻辑元件的输出对应的多个观察测试点，所述EDA工具包括：

用于存储所述IC设计的存储器；以及

与所述存储器通信的处理器，其中所述处理器包括：

用于识别与所述多个观察测试点中的第一观察测试点集对应的所述IC设计的第一扫描触发器的装置，其中所述第一观察测试点集生成第一测试信号集；

用于通过以下操作将至少一个XOR门、AND门和OR门插入所述第一观察测试点集与所述第一扫描触发器之间的装置：将所述XOR门的第一输入端子集连接至所述第一观察测试点集用于接收所述第一测试信号集，将所述XOR门的输出端子连接至所述AND门的第一输入端子用于向其提供观察测试信号，将所述AND门的输出端子连接至所述OR门的第一输入端子，以及将所述OR门的输出端子连接至所述第一扫描触发器的扫描使能输入端子；

用于向所述AND门的第二输入端子提供观察测试点使能信号，向所述OR门的第二输入端子提供扫描使能信号，以及向所述第一扫描触发器的数据输入端子和扫描输入端子分别提供数据输入信号和测试模式集的装置，其中所述AND门基于所述观察测试点使能信号而向所述OR门提供第一中间观察测试信号，并且所述OR门基于所述扫描使能信号而向所述第一扫描触发器的所述扫描使能输入端子提供第二中间观察测试信号；以及

用于在所述第一扫描触发器的输出端子处观察所述数据输入信号和所述测试模式集中的至少一个的装置。

2.根据权利要求1所述的EDA工具，其中所述数据输入信号是内部和外部生成的数据输入信号之一。

3.根据权利要求1所述的EDA工具，其中所述测试模式集由所述IC设计的线性反馈移位寄存器LFSR和外部的自动测试模式生成器ATPG工具中的至少一个生成。

4.根据权利要求1所述的EDA工具，其中所述扫描使能信号在移位操作期间处于逻辑高的状态，并且在所述IC设计的捕获操作期间处于逻辑低的状态。

5.根据权利要求4所述的EDA工具，其中所述第一扫描触发器在所述移位操作期间在其所述输出端子处输出所述测试模式集。

6.根据权利要求4所述的EDA工具，其中在所述捕获操作期间，当所述第二中间观察测试信号处于逻辑高的状态时，所述第一扫描触发器输出所述测试模式集。

7.根据权利要求6所述的EDA工具，其中在所述捕获操作期间，当所述第二中间观察测试信号处于逻辑低的状态时，所述第一扫描触发器输出所述数据输入信号。

8.一种用于增大集成电路设计的故障覆盖率的电子设计自动化EDA工具，其中所述集成电路设计包含与所述集成电路设计的多个逻辑元件的输出对应的多个观察测试点，所述EDA工具包括：

用于存储所述集成电路设计的存储器；以及

与所述存储器通信的处理器，其中所述处理器包括：

用于识别与所述多个观察测试点中的第一观察测试点集对应的所述集成电路设计的第一扫描触发器的装置，其中所述第一观察测试点集生成第一测试信号集；

用于通过将多路复用器的第一输入端子连接至所述第一观察测试点集用于接收所述第一测试信号集以及将所述多路复用器的输出端子连接至所述第一扫描触发器的扫描输入端子而将所述多路复用器插入所述第一观察测试点集与所述第一扫描触发器之间的装置；

用于向所述多路复用器的第二输入端子提供测试模式集，向所述多路复用器的选择输入端子提供测试控制信号，以及分别向所述第一扫描触发器的扫描使能端子和数据输入端子提供扫描使能信号和数据输入信号的装置；以及

用于基于所述测试控制信号和扫描使能信号而观察在所述第一扫描触发器的输出端子处的所述第一测试信号集的装置。

9.根据权利要求8所述的EDA工具，其中所述多路复用器在所述测试控制信号处于逻辑低的状态时输出所述第一测试信号集，并且在所述测试控制信号处于逻辑高的状态时输出所述测试模式集。