[发明专利]于静态电流测试下检测全域字符线缺陷有效
申请号: | 201410529106.0 | 申请日: | 2014-10-10 |
公开(公告)号: | CN105321578B | 公开(公告)日: | 2018-09-07 |
发明(设计)人: | 杨连圣;张鸿文 | 申请(专利权)人: | 常忆科技股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/08 | 分类号: | G11C29/08 |
代理公司: | 北京华夏博通专利事务所(普通合伙) 11264 | 代理人: | 刘俊 |
地址: | 中国台湾新竹科学*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 静态 电流 测试 检测 全域 字符 缺陷 | ||
1.一种检测内存缺陷的装置,其特征在于,包括:
一第一全域字符线,包括一寄生电容;
一第二全域字符线;
一全域字符线前端电路;
一全域字符线驱动电路,连接至该全域字符线前端电路及驱动该第一全域字符线;
一区域字符线驱动电路,连接至该第一全域字符线及驱动一区域字符线;以及
一压控电流晶体管,该压控电流晶体管为场效晶体管,且包括作为栅极的一第一端、作为源极以及漏极的其中一个的一第二端及作为源极以及漏极的其中另一个的一第三端,其中,该第一端连接至该第一全域字符线,该第二端连接至该全域字符线前端电路及该全域字符线驱动电路之间,以及该第三端输出测试电流,
该压控电流晶体管为场效晶体管,且该压控电流晶体管的该第二端及该第三端可互换。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,该全域字符线前端电路包括多个全域字符线前端晶体管,该全域字符线驱动电路包括多个全域字符线驱动晶体管,以及该区域字符线驱动电路包括多个区域字符线驱动晶体管。
3.如权利要求1所述的装置,其特征在于,在检测内存缺陷时,该压控电流晶体管操作于饱和区,用以线性放大该测试电流。
4.如权利要求1所述的装置,其特征在于,当浮接该全域字符线驱动电路时,该压控电流晶体管的该第三端将输出测试电流。
5.如权利要求1所述的装置,其特征在于,除了该第一全域字符线及该第二全域字符线之外,该装置包括多个全域字符线。
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