[发明专利]岩石光电特性测量装置及其使用方法

说明书

技术领域

本发明涉及岩石勘测技术领域，特别涉及一种岩石光电特性测量装置及其使用方法。

背景技术

在光的照射下，某些物质内部的电子会被光子激发出来而形成电流，即光生电。在光线作用下，这些物质材料吸收光子能量，引起载流子浓度变化而导致材料电导率的变化称为光电导效应。

然而，目前还没有有效地测量岩石光电特性的方法。

发明内容

本发明实施例提供了一种岩石光电特性测量装置，从而可以对岩石的光电特性进行测量，该装置包括：

壳体；

稳态激光发射器，位于所述壳体内，用于发射出照射在岩石样品上的激光信号；

样品槽，位于所述壳体上，且位于所述稳态激光发射器的光路中心，用于放置岩石样品；

电源，位于所述壳体内，用于为放置在所述样品槽上的岩石样品提供电压；

示波器，通过导线与所述样品槽中放置的岩石样品相连，用于接收所述岩石样品在所述稳态激光发射器发出的激光的照射下所产生的电信号，并将所述电信号转换为波形信号进行显示，其中，所述波形信号用于分析所述岩石样品的光电特性。

在一个实施例中，所述样品槽是可转变角度的卡槽。

在一个实施例中，所述样品槽上设置有电极，所述导线固定在所述电极的两端，且所述电极与样品槽上的岩石样品接触。

在一个实施例中，所述电极为接触式叉指电极。

在一个实施例中，在所述壳体内还设置有处理器，与所述示波器相连，用于实时记录所述示波器显示的波形信号，并根据记录的波形信号分析所述岩石样品的光电特性。

在一个实施例中，所述稳态激光发射器为532nm波长激光发射器。

在一个实施例中，所述岩石光电特性测量装置是手持式的。

在本例中，还提供了一种上述岩石光电特性测量装置的使用方法，包括：

将岩石样品置于样品槽上，调整所述岩石样品至位于稳态激光发射器的光路中心；

打开所述稳态激光发射器、电源和示波器；

记录所述示波器上显示的波形信号；

根据所述波形信号分析所述岩石样品的光电特性。

在一个实施例中，在记录所述示波器上显示的波形信号之前，所述方法还包括：

确定所述示波器上显示波形信号的响应速度是否满足预定要求；

如果不满足，则减小所述示波器的输入阻抗。

在本发明实施例中，提供了一种岩石光电特性测量装置，该装置中内置了稳态激光发射器和示波器，因此可以先通过稳态激光发射器发射出激光信号照射在岩石样品中，然后通过示波器显示岩石样品在激光照射下所产生的波形信号，根据显示的波形信号便可以实现对岩石样品光电特性的分析，从而解决了现有技术中无法对岩石的光电特性进行有效测量的问题。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本发明的限定。在附图中：

图1是本发明实施例的岩石光电特性测量装置的结构示意图；

图2是本发明实施例的岩石光电特性测量装置的使用方法流程图；

图3是本发明实施例的叉指电极示意图；

图4是本发明实施例的光电特性表征示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施方式和附图，对本发明做进一步详细说明。在此，本发明的示意性实施方式及其说明用于解释本发明，但并不作为对本发明的限定。

发明人考虑到，可以通过光电探测技术，利用稳态激光激发来获取岩石的光电信号，通过对岩石的光电信号的分析，得到岩石的光电特性。

基于上述思想，在本例中，提供了一种岩石光电特性测量装置，如图1所示，该装置包括：

壳体101；

稳态激光发射器102，位于壳体101内，用于发射出照射在岩石样品上的激光信号；

样品槽103，位于壳体101上，且位于稳态激光发射器102的光路中心，用于放置岩石样品；

电源104，位于壳体101内，用于为放置在样品槽上的岩石样品提供电压；

示波器105，通过导线与样品槽103中放置的岩石样品相连，用于接收岩石样品在稳态激光发射器102发出的激光的照射下所产生的电信号，并将电信号转换为波形信号进行显示，其中，波形信号用于分析岩石样品的光电特性。