[发明专利]接合装置以及接合方法有效
| 申请号: | 201410341895.5 | 申请日: | 2014-07-17 |
| 公开(公告)号: | CN104299923A | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
| 发明(设计)人: | 井出昌史;依田薰 | 申请(专利权)人: | 西铁城控股株式会社 |
| 主分类号: | H01L21/603 | 分类号: | H01L21/603 |
| 代理公司: | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人: | 金玲 |
| 地址: | 日本东京都西东*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 接合 装置 以及 方法 | ||
1.一种接合装置,其特征在于,具有:
临时固定部,所述临时固定部基于从光学元件出射的光的强度,相对于具有金属制的微凸块的基板对所述光学元件进行定位,并将第一负荷施加于所述光学元件以将所述光学元件临时固定在微凸块上;和
正式接合部,所述正式接合部将第二负荷施加于所述光学元件以使所述光学元件常温活性化接合在微凸块上,所述第二负荷比所述第一负荷要大,基于从通过所述临时固定部临时固定了的光学元件出射的光的强度而被调整。
2.如权利要求1所记载的接合装置,其特征在于,
所述临时固定部具有支承所述光学元件并将所述第一负荷施加于所述光学元件的临时固定头;和使基板能够相对于所述临时固定头移动地对基板进行支承的临时固定支承台,
所述正式接合部具有将所述第二负荷施加于所述光学元件的正式接合头;和对临时固定有所述光学元件的基板进行支承的正式接合支承台。
3.如权利要求2所记载的接合装置,其特征在于,
所述临时固定部还具有对从所述光学元件出射的光进行检测的临时固定光检测部;和基于来自所述临时固定光检测部的检测输出对所述临时固定支承台的移动进行控制的临时固定控制部,
所述正式接合部还具有对从所述光学元件出射的光进行检测的正式接合光检测部;和基于来自所述正式接合光检测部的检测输出对所述正式接合头进行控制的正式接合控制部。
4.如权利要求2或3所记载的接合装置,其特征在于,还具有:
输送部,所述输送部将临时固定有所述光学元件的基板从所述临时固定支承台输送到所述正式接合支承台上。
5.如权利要求1~3中的任一项所记载的接合装置,其特征在于,
所述临时固定部决定设置有微凸块的基板的平面上的所述光学元件的水平位置,
所述正式接合部调整所述第二负荷的大小并决定基板的厚度方向的所述光学元件的垂直位置。
6.如权利要求1~3中的任一项所记载的接合装置,其特征在于,还具有:
加热部,所述加热部对通过所述正式接合部被常温活性化接合了的基板和光学元件进行加热以提高接合强度。
7.一种接合方法,其特征在于,包括:
基于从光学元件出射的光的强度,相对于具有金属制的微凸块的基板对所述光学元件进行定位,并将第一负荷施加于所述光学元件以将所述光学元件临时固定在微凸块上的工序;和
将第二负荷施加于所述光学元件以使所述光学元件常温活性化接合在微凸块上的工序,所述第二负荷比所述第一负荷要大,基于从被临时固定了的光学元件出射的光的强度而被调整。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





