[发明专利]直接在Si衬底上自催化生长InAsSb纳米线的方法无效

专利信息
申请号: 201410160279.X 申请日: 2014-04-21
公开(公告)号: CN103938178A 公开(公告)日: 2014-07-23
发明(设计)人: 杜文娜;杨晓光;王小耶;杨涛;王占国 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: C23C16/18 分类号: C23C16/18;B82Y40/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 直接 si 衬底 催化 生长 inassb 纳米 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及半导体光电子及微电子材料生长技术领域,尤其是指直接在Si衬底上自催化生长InAsSb纳米线的方法。

背景技术

InAsSb三元合金纳米线由于其宽范围可调的带隙(2-8μm)、高热导率和高电子迁移率,在电子、光电子以及热电传感器等方便有广泛的应用。目前,国际上已经制备出将其作为沟道材料的低功耗场效应晶体管以及InAsSb纳米线材料的探测器。

由于Sb的表面钝化作用,InAsSb纳米线材料难以在衬底上直接成核生长。目前,国内外各研究小组对InAsSb纳米线的外延生长方法主要可以分为两类:一类是先生长一段InAs核子纳米线,然后在其基础上成核生长InAsSb纳米线;另一类是通过生长轴向异质结,先长一定长度的InAs或InP纳米线,再在其上生长InAsSb纳米线。虽然两种方法都能制备出InAsSb纳米线,但其大部分都是使用Au作为催化剂和III-V族材料作为衬底材料。这样既不利于与成熟的Si基CMOS技术集成,也难以满足对单独InAsSb纳米线的需求。此外,目前国内外生长的InAsSb纳米线材料的晶体质量并不高,含有很多缺陷(如层错、栾晶和晶界),而纳米线晶体质量的优略直接关系到器件性能的好坏。因此,如何在Si衬底上直接自催化生长出高晶体质量的InAsSb纳米线成为了一个极其有意义的课题。

发明内容

本发明的目的是,提供一种直接在Si衬底上自催化生长InAsSb纳米线的方法,其不需要使用外来催化剂,没有污染,也不需要核子纳米线辅助成核,生长步骤简化,即可在Si衬底上生长高晶体质量InAsSb纳米线。

本发明提供一种直接在Si衬底上自催化生长InAsSb纳米线的方法,包括如下步骤:

步骤1:将一衬底放入有机溶液中超声清洗;

步骤2:将清洗后的衬底用氢氟酸溶液进行腐蚀;

步骤3:将腐蚀后的衬底放入MOCVD外延设备的腔室中,将衬底第一次升温后稳定一预定时间;

步骤4:将衬底第一次降到设定温度后,第一次通入AsH3气体;

步骤5:将衬底第二次升温至纳米线的生长温度稳定一预定时间后,减小AsH3气体的流量,同时通入TMIn和TMSb气体,开始生长InAsSb纳米线;

步骤6:生长结束后关掉通入的TMIn气体,将衬底温度第二次降至室温后关掉AsH3和TMSb气体,完成InAsSb纳米线的制备。

本发明的有益效果是:

1、本发明提供的直接在Si衬底上自催化生长InAsSb纳米线的方法,可以实现与成熟的Si基光电子技术的集成。

2、本发明提供的直接在Si衬底上自催化生长InAsSb纳米线的方法,与常用的Au催化方法相比,避免了Au对器件性能带来的损害。

3、本发明提供的直接在Si衬底上自催化生长InAsSb纳米线的方法,可以生长出高质量的InAsSb纳米线,因此可以用来制作高性能的器件。

附图说明

为使本发明的技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实例及附图详细说明如后,其中:

图1为本发明方法的流程图;

图2为本发明中InAsSb纳米线的扫描电镜图;

图3为本发明中高晶体质量InAsSb纳米线的高分辨率透射电镜图;

图4为本发明中高晶体质量InAsSb纳米线的电子衍射图。

具体实施方式

请参阅图1所示,本发明提供了一种直接在Si衬底上自催化生长InAsSb纳米线的方法,包括以下步骤:

步骤1:将一衬底放入有机溶液中超声清洗,该衬底的材料为Si(n型或P型),这样有利于与成熟的Si基CMOS技术集成,所述的有机溶液为乙醇和丙酮,所述的超声清洗过程为乙醇超声5分钟后再用丙酮超声5分钟,超声清洗可以去掉表面的有机物和颗粒状杂质;

步骤2:将清洗后的衬底用氢氟酸溶液进行腐蚀,除去表面自然氧化层。所述腐蚀所用的氢氟酸溶液质量百分浓度为2%,腐蚀液放在30℃的恒温槽内恒温10分钟后腐蚀,腐蚀时间为5秒钟,腐蚀后立即用去离子水清洗干净后用氮气枪吹干,这样可避免腐蚀液残留在衬底表面;

步骤3:将腐蚀后的衬底放入MOCVD外延设备的腔室中,为了防止硅表面再次氧化,从清洗结束到放入腔室整个过程要在10分钟内完成,将衬底第一次升温后稳定一预定时间,所述衬底第一次升温的温度为630℃,稳定的时间为5分钟,目的在于去除表面残留的污染物;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410160279.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top