[发明专利]测绘装置、利用其测绘目标物体的方法和计算机程序产品

权利要求书

1.一种光学测绘装置(11)，该测绘装置具有：

用于设立所述测绘装置(11)的基部(1)以及瞄准单元(3)，该瞄准单元能相对于所述基部(1)绕两个轴线(7，8)旋转，这两个轴线均设置有测角器，该瞄准单元(3)限定用于瞄准待被测绘的目标物体(40)的目标轴线(9)，其中所述瞄准单元(3)具有：

-第一光束路径(10z)，该第一光束路径用于沿待被测绘的所述目标物体(40)的方向发射光辐射(10)；以及

-第二光束路径(10y)，该第二光束路径用于通过光电子接收元件(58，13，51)接收从所述目标物体(40)反射的所述光辐射(10)的分量，

其特征在于，这些光束路径(10z，10y)中的至少一个光束路径具有光学元件，该光学元件被实施为至少具有光学透明的可变形容积主体(63)，所述容积主体具有至少一个界面(63g)，该界面朝向具有从该容积主体(63)偏离的光学折射率的介质，

其中，所述界面(63g)能借助于多个电激活信号(31a，31b，31c，31d)变形，使得因此所述光学元件的光学折射特性能够在至少两个非一致的方向上不同地变化。

2.根据权利要求1所述的测绘装置(11)，其特征在于，所述光学元件(30)具有沿着所述容积主体(63)的周向的多个最终控制元件，所述最终控制元件由所述电激活信号(31a，31b，31c，31d)激活。

3.根据权利要求1或2所述的测绘装置(11)，其特征在于，所述光学元件(30)被实施为使得其光学折射特性能够变化，从而使得相关的光束路径的光学轴线的偏转的变化能由所述电激活信号(31a，31b，31c，31d)来进行。

4.根据权利要求1或2所述的测绘装置(11)，其特征在于，所述光学元件(30)被实施为使得其光学折射特性能够变化，从而使得相关的光束路径的轴向聚集的变化能由所述电激活信号(31a，31b，31c，31d)来进行。

5.根据权利要求1或2所述的测绘装置(11)，其特征在于，所述测绘装置(11)具有光电子测距仪，并且具有所述光学元件(30)的光束路径(10z，10y)引导所述光电子测距仪的光辐射，和/或

所述测绘装置(11)具有自动目标检测，并且具有所述光学元件(30)的光束路径(10z，10y)引导所述目标检测的光辐射。

6.根据权利要求1或2所述的测绘装置(11)，其特征在于，所述光学元件(30)布置在所述第一光束路径(10z)中，并且能通过光学折射特性的变化来进行静态和/或动态目标线修改。

7.根据权利要求1或2所述的测绘装置(11)，其特征在于，所述测绘装置(11)具有用于识别所述光辐射(10)在所述目标物体(40)上的入射点的光学传感器元件，并且

所述电激活信号(31a，31b，31c，31d)的调节通过所述光学传感器元件的分析来执行，使得所述入射点相对于所述目标轴线(9)的形状和/或位置对应于设定点值。

8.根据权利要求1或2所述的测绘装置(11)，其特征在于，所述光学元件(30)被实施并布置成使得在利用该光学元件时，能进行如下形式的目标线修改：

-相对于所述测绘装置(11)的所述目标轴线(9)对准目标线；

-改变所发射的辐射的发散；

-通过折射特性的动态变化来减小斑点效应；

-使调制波前平滑；

-执行所述第一光束路径(10z)的动态扫描运动；

-在基准光束路径或测量光束路径之间切换；

-至少使两个不同的光辐射源的光束路径相对于彼此对准；和/或

-利用所述第一光束路径和/或所述第二光束路径跟踪所述目标物体(40)。

9.根据权利要求1所述的测绘装置(11)，其特征在于，所述测绘装置是视距仪、激光扫描器或激光跟踪器。

10.根据权利要求1所述的测绘装置(11)，其特征在于，所述第一光束路径(10z)发射来自激光光源的光辐射(10)。

11.根据权利要求1所述的测绘装置(11)，其特征在于，所述容积主体(63)是液体。

12.根据权利要求1所述的测绘装置(11)，其特征在于，所述方向近似地正交于所述光学元件(30)的光学轴线。