[发明专利]液晶面板检查装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种液晶面板检查装置，其使用背光来对处于未安装有偏振片的状态下的液晶面板进行照射并使用摄像装置来拍摄该液晶面板，根据该液晶面板的图像来判定液晶面板的缺陷地址。

背景技术

在这种检查装置中具有专利文献1所记载的检查装置。如图7所示，该以往的检查装置包括非点亮检查部A和点亮检查部B。在非点亮检查部A中，未安装有偏振片的液晶面板1在其各像素没有被施加电压的非点亮（非驱动）状态下接受检查。另外，在点亮检查部B中，液晶面板1在其各像素被经由探头单元2施加了电压的点亮（驱动）状态下接受检查。

在非点亮检查部A中，在工作台3上的液晶面板1的上方和下方配置有一对偏振片4a、4b。背光光源5经由下方的偏振片4b向液晶面板1的下表面1b照射与该下表面1b成直角的光。在工作台3上垂直地保持有镜子6，来自背光光源5的光的一部分被镜子6反射而朝向液晶面板1的周边照射，由此使液晶面板1的周边部的光量增加。

在液晶面板1接收到该背光光源5的光的状态下，利用摄像装置7经由上方的偏振片4a来拍摄液晶面板1的上表面1a。一对偏振片4a、4b以偏振方向彼此平行的方式配置。并且，透过非点亮状态的液晶面板1的光的相位在透过期间被旋转90度。因此，只要在经由液晶面板1的光路上不存在散射因子，则背光光源5的透过液晶面板1的光的行进就会被偏振片4a阻断。其结果，来自背光光源5的光不会被摄像装置7捕捉，摄像装置7得到的是黑暗画面。但是，当在液晶面板1上存在缺陷、或在液晶面板1的面1a、1b上附着有异物时，来自背光光源5的较强的光会因缺陷、异物而产生散射。散射光的一部分会透过偏振片4a，因此上述缺陷、异物作为黑暗画面上的亮点被摄像装置7观察到。

由于附着在液晶面板1的面1a、1b上的异物能够通过例如清洗而被去除，因此需要将该异物导致的亮点从考虑的对象中剔除。为此，液晶面板1接下来要在相同的非点亮检查部A中接受利用倾斜照明光源8的非点亮检查。在该非点亮检查中，替代背光光源5而点亮安装于工作台3的倾斜照明光源8。另外，镜子6收纳于图7的非点亮检查部A中的以虚线表示的水平的收纳位置，以不妨碍来自倾斜照明光源8的光。工作台3上的液晶面板1自下表面1b接受没有通过偏振片4b的、来自倾斜照明光源8的倾斜照射光。该倾斜照射光不直接到达摄像装置7，会因附着在液晶面板1的面1a、1b上的异物而发生散射。但是，来自倾斜照明光源8的倾斜照射光不会因液晶面板1内的缺陷而发生如上述异物所导致的散射那样的较强的散射。其结果，在倾斜照明光源8的照射下，在液晶面板1的面1a的经由偏振片4a而被摄像装置7拍摄到的黑暗画面中，能够通过上述异物导致的亮点和上述缺陷导致的亮点之间的亮度差来辨别上述异物导致的亮点和上述缺陷导致的亮点。

因而，通过对由背光光源5照射下的非点亮检查部A得到的亮点数据和由倾斜照明光源8照射下的非点亮检查部A得到的亮点数据进行比较，能够判定哪些亮点是真的缺陷（像素缺陷）导致的亮点。

然而，在上述非点亮检查部A进行的两个检查中，由于在黑暗画面上显示亮点，因此不能迅速地确定被判定为缺陷所导致的亮点的像素地址即缺陷的准确的像素地址。

因此，为了求出在上述非点亮检查部A进行的两个检查中被判定为缺陷的亮点的像素地址，在点亮检查部B中，液晶面板1在被经由探头单元2施加了电压的点亮（驱动）状态下接受检查。在点亮检查部B中，在液晶面板1经由与偏振片4b同样的偏振片4b′而接收到来自背光光源5′的光的状态下，利用摄像装置7′经由与偏振片4a同样的偏振片4a′拍摄液晶面板1。通过该拍摄，上述缺陷和异物在液晶面板1的点亮画面上作为黑点被捕捉到，并且在上述点亮画面上捕捉到用于划分各像素的黑色矩阵。因而，能够易于自摄像装置7′的拍摄画面中读取与上述缺陷导致的亮点相对应的黑点的地址，由此易于查明真的缺陷的像素地址。

其结果，能够根据该缺陷的像素地址来适当地修复缺陷像素。

然而，在上述以往的液晶面板检查装置中，需要在非点亮检查部A和点亮检查部B中分别设置用于构成各检查部的装置的设置空间，而设备占用空间变大。另外，需要在两个检查部A、B之间移送液晶面板1，并且为了将在非点亮检查部A获得的亮点和在点亮检查部B获得的黑点相关联而需要准确配置液晶面板1，因此，在缩短生产节拍时间这点上不佳。

专利文献1：日本特开2008－40201号公报

发明内容

因此，本发明的目的在于，提供一种能够去除以往的上述缺点且能够迅速且准确地确定液晶面板的缺陷地址的紧凑的液晶面板检查装置。