[发明专利]生产派工的方法和装置有效
申请号: | 201410035722.0 | 申请日: | 2014-01-24 |
公开(公告)号: | CN104808597B | 公开(公告)日: | 2018-07-03 |
发明(设计)人: | 杨健;陈思安;张珏;朱瑜杰;孙强 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | G05B19/418 | 分类号: | G05B19/418 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 江舟;吴贵明 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 加工设备 加工 缺陷率 方法和装置 缺陷检测 技术效果 状态指示 生产 | ||
1.一种生产派工的方法,其特征在于,包括:
在待加工的产品传送到第一加工设备时,获取所述第一加工设备的缺陷检测状态;
若所述缺陷检测状态指示所述第一加工设备在接收到所述待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值,则指示所述第一加工设备对所述待加工的产品进行加工;
若所述缺陷检测状态指示所述第一加工设备在接收到所述待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率高于第一预定阈值,则指示第二加工设备对所述待加工的产品进行加工;
其中,在所述待加工的产品传送到所述第一加工设备之前,包括:获取包括所述第一加工设备和所述第二加工设备在内的多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态,其中,
所述获取包括所述第一加工设备和所述第二加工设备在内的多个加工设备的缺陷检测状态包括:从所述多个加工设备中的每一个设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品;对抽出的所述预定个数的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数;根据所述预定个数和所述存在缺陷的产品的个数计算得到所述多个加工设备中的每一个已加工出的产品的缺陷率;将所述多个加工设备中的每一个已加工出的产品的缺陷率分别与所述第一预定阈值进行比较,将比较得到的结果作为所述多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述第一加工设备的缺陷检测状态,包括:
从所述第一加工设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品;
对抽出的所述预定个数的产品中存在缺陷的产品进行统计,得到存在缺陷的产品的个数;
根据所述预定个数和所述存在缺陷的产品的个数计算得到所述第一加工设备在接收到所述待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率;
将所述第一加工设备在接收到所述待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率与所述第一预定阈值进行比较,将比较得到的结果作为所述缺陷检测状态。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,每个预定的检测周期执行一次所述获取包括所述第一加工设备和所述第二加工设备在内的多个加工设备中的每一个的缺陷检测状态的步骤。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在从所述多个加工设备中的每一个设备已加工出的产品中抽出预定个数的产品之后,还包括:
若在一个所述检测周期内所述多个加工设备中的一个设备D对应的抽出的所述预定个数N与所述一个设备D已加工出的产品的个数M的比值N/M小于第二预定阈值,则通知所述设备D发出告警。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,若所述缺陷检测状态指示所述第一加工设备在接收到所述待加工的产品时已加工出的产品的缺陷率高于所述第一预定阈值,包括:
指示所述第一加工设备停止工作;和/或
向控制系统发送告警信息,其中,所述告警信息用于指示所述第一加工设备存在缺陷。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述指示第二加工设备对所述待加工的产品进行加工包括:
从除所述第一加工设备之外的多个加工设备中选择已加工出的产品的缺陷率低于或等于第一预定阈值的一个加工设备作为所述第二加工设备,其中,所述待加工的产品符合所述多个加工设备的加工条件;
将所述待加工的产品传送到所述第二加工设备。
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