[发明专利]用于密封检查的系统和方法

说明书

技术领域

本公开一般地涉及用于检查密封的系统和方法。更具体地说，本公开涉及用于检查螺纹封盖的密封的系统和方法。

背景技术

当前，为了检测具有封盖的瓶子的泄漏，当瓶子位于传送带上时，使用一种视觉系统检查封盖相对于瓶子的颈环或底部的高度。另一种形式的检查是查看在容器的颈环与封盖之间通过多少光，并且测量显示器的像素以便测量封盖与颈环之间的空间或距离。虽然当前视觉系统检查每个容器，但是它们只能发现次要或主要缺陷而不能发现细微缺陷。这些当前检查系统的问题是封盖往往是“泄漏件(leaker)”，即使没有检测到高度或空间差异，或者经济适用的视觉系统的公差高于密封与无密封的公差时也是如此。

一种备选的泄漏检测方法是挤压/压力或挤压/顶空测量检测系统。这些方法需要额外的设备以便添加到装配或生产线，从而需要更多的资金和经营成本。这些系统中的许多系统同样不检查每个容器。

发明内容

本公开涉及用于检查封盖与容器之间的密封以查看泄漏的系统和方法。在一个一般实施例中，本公开提供一种密封检查系统，包括：封盖，其通过螺纹附接到容器，所述封盖和所述容器均包括标记；至少一个摄像机，其被布置为检测所述封盖上的所述标记和所述容器上的所述标记；以及包括处理器的计算机，其被配置为计算以下项中的至少一个：1)所述容器上的所述标记与所述封盖上的所述标记之间的角度，或者2)所述容器上的所述标记与所述封盖上的所述标记之间的距离，以及判定所述角度或所述距离是否达到基准值。

在所述系统的一个备选实施例中，所述封盖的一个或多个所述标记和/或所述容器的一个或多个所述标记可由以下至少一个检测：激光束、x射线或紫外光。在该系统中，一个或多个激光、x射线发射器和/或紫外光发射器被布置为朝向所述封盖和所述容器发射。一个或多个合适的传感器然后被适当地布置(例如，以类似于所述摄像机的配置)，以便当发射所述激光束、x射线或紫外光时，检测所述封盖的所述一个或多个标记和/或所述容器的一个或多个标记。包括处理器的计算机被配置为计算以下项中的至少一个：1)所述容器上的所述标记与所述封盖上的所述标记之间的角度，或者2)所述容器上的所述标记与所述封盖上的所述标记之间的距离，以及判定所述角度或所述距离是否达到基准值。

在此处描述的系统的任何实施例中，如果所述角度或距离达到或超过所述基准值，则所述容器可以被指定为非泄漏件。此外或备选地，如果所述角度或距离未达到所述基准值，则所述容器可以被指定为泄漏件。

在此处描述的系统的任何实施例中，所述封盖可以包括螺纹部分，所述螺纹部分通过螺纹被附接到所述容器的螺纹部分。

在此处描述的系统的任何实施例中，可以由同一摄像机检测所述容器上的所述标记和所述封盖上的所述标记。当查看所述封盖和所述容器时，所述摄像机可以被放置在相对于所述封盖和所述容器的垂直位置的非水平位置处。

在此处描述的系统的任何实施例中，所述容器上的所述标记可以是凹槽或凸起中的至少一个。同样，所述封盖上的所述标记可以是凹槽或凸起中的至少一个。

在此处描述的系统的任何实施例中，所述封盖上的所述标记可以是所述封盖的图形上的点。同样，所述容器上的所述标记可以是所述容器的图形上的点。

在此处描述的系统的任何实施例中，所述封盖和所述容器可以是被附接到容器的封盖的装配线的一部分。

在一个备选实施例中，本公开提供一种用于检查密封的方法。所述方法包括：检测容器上的标记；检测被附接到所述容器的封盖上的标记；以及计算以下项中的至少一个：1)所述容器上的所述标记与所述封盖上的所述标记之间的角度，或者2)所述容器上的所述标记与所述封盖上的所述标记之间的距离，以便判定所述角度或所述距离是否达到基准值。

在另一个实施例中，本公开提供一种用于检查密封的方法。所述方法包括：对被附接到容器的封盖发射激光、x射线或紫外光中的至少一个；从所发射的激光、x射线或紫外光检测所述容器上的标记和所述封盖上的标记；以及计算以下项中的至少一个：1)所述容器上的所述标记与所述封盖上的所述标记之间的角度，或者2)所述容器上的所述标记与所述封盖上的所述标记之间的距离，以便判定所述角度或所述距离是否达到基准值。

在此处描述的方法的任何实施例中，所述方法还可以包括：如果所述角度或距离达到或超过所述基准值，则将所述容器指定为非泄漏件。此外或备选地，所述方法还可以包括：如果所述角度或距离未达到所述基准值，则将所述容器指定为泄漏件。