[发明专利]用于补偿激光跟踪仪中的轴承径向跳动的装置和方法在审
| 申请号: | 201380025717.5 | 申请日: | 2013-05-07 |
| 公开(公告)号: | CN104321616A | 公开(公告)日: | 2015-01-28 |
| 发明(设计)人: | 罗伯特·E·布里奇斯 | 申请(专利权)人: | 法罗技术股份有限公司 |
| 主分类号: | G01B21/04 | 分类号: | G01B21/04;G01C15/00;G01M13/04;G01S17/66;G01B11/00 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 董敏;王艳江 |
| 地址: | 美国佛*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 补偿 激光 跟踪 中的 轴承 径向 跳动 装置 方法 | ||
1.一种用于对通过坐标测量设备对回射器目标的三维坐标测量中的误差进行校正的方法,所述坐标测量设备构造成将光的第一射束发送至所述回射器目标,所述回射器目标构造成将所述第一射束的一部分作为第二射束返回,所述方法包括以下步骤:
提供所述坐标测量设备,所述坐标测量设备具有第一轴杆、第二轴杆、第一马达、第二马达、第一角度测量设备、第二角度测量设备、测距仪和处理器,所述第一轴杆构造成围绕第一轴线旋转,所述第一轴杆由第一轴承和第二轴承支承,所述第一马达构造成使所述第一轴杆围绕所述第一轴线旋转第一角度,所述第一角度测量设备构造成测量所述第一角度,所述第二轴杆构造成围绕第二轴线旋转,所述第二轴杆由第三轴承和第四轴承支承,所述第二马达构造成使所述第二轴杆围绕所述第二轴线旋转第二角度,所述第二角度测量设备构造成测量所述第二角度,所述测距仪构造成至少部分地基于由第一光学探测器接收的所述第二射束的第一部分来测量从所述坐标测量设备到所述回射器目标的第一距离;
用所述第一角度测量设备测量多个第一角度;
在沿所述第一轴线的第一位置处测量多个第一位移,所述多个第一位移中的每者均与所述多个第一角度中的一个第一角度相关联,所述第一位移沿垂直于所述第一轴线的第一线取得;
在沿所述第一轴线的第二位置处测量多个第二位移,所述多个第二位移中的每者均与所述多个第一角度中的一个第一角度相关联,所述第二位移沿垂直于所述第一轴线的第二线取得,在所述第一线与所述第二线之间存在第一间距;
至少部分地基于所述多个第一角度、所述多个第一位移、所述多个第二位移以及所述第一间距确定补偿值;
将所述第一射束发送至所述回射器目标;
用所述第一角度测量设备测量第一回射器角度;
用所述第二角度测量设备测量第二回射器角度;
用所述测距仪测量所述第一距离;
至少部分地基于所述第一回射器角度、所述第二回射器角度、所述第一距离以及所述补偿值计算所述回射器目标的三维坐标;以及
将所述回射器目标的所述三维坐标储存在存储器中。
2.根据权利要求1所述的方法,还包括以下步骤:
在沿所述第一轴线的第三位置处测量多个第三位移,所述多个第三位移中的每者均与所述多个第一角度中的一个第一角度相关联,所述第三位移沿垂直于所述第一轴线的第三线取得;
在沿所述第一轴线的第四位置处测量多个第四位移,所述多个第四位移中的每者均与所述多个第一角度中的一个第一角度相关联,所述第四位移沿垂直于所述第一轴线的第四线取得,在所述第三线与所述第四线之间存在第二间距;以及
在确定补偿值的所述步骤中,所述补偿值还至少部分地基于所述多个第三位移、所述多个第四位移以及所述第二间距确定。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,在确定补偿值的所述步骤中,所述补偿值包括所述第一轴线的多个倾斜角度,其中,所述多个倾斜角度中的每者均与所述多个第一角度中的一个第一角度相关联。
4.根据权利要求1所述的方法,还包括以下步骤:
提供测试装置,所述测试装置构造成可移除地附接至所述第一轴杆,所述测试装置具有第一传感器和第二传感器;
将所述测试装置附接至所述第一轴杆,以便将所述第一传感器放置在所述第一位置处,以及将所述第二传感器放置在所述第二位置处;以及
其中,在测量多个第一位移的所述步骤中,所述第一位移由所述第一传感器测量,以及,在测量多个第二位移的所述步骤中,所述第二位移由所述第二传感器测量。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,在提供测试装置的所述步骤中,所述第一传感器与所述第二传感器是电容传感器。
6.根据权利要求5所述的方法,其中,在提供测试装置的所述步骤中,所述第一传感器靠近第一球形表面,以及所述第二传感器靠近第二球形表面。
7.根据权利要求1所述的方法,还包括以下步骤:
提供第一传感器和第二传感器,所述第一传感器位于所述第一位置处,以及所述第二传感器位于所述第二位置处;以及
其中,在测量多个第一位移的所述步骤中,所述第一位移由所述第一传感器测量,以及,在测量多个第二位移的所述步骤中,所述第二位移由所述第二传感器测量。
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