[实用新型]一种检验工件的凸起高度的新型检验装置

权利要求书

1.一种检验工件的凸起高度的新型检验装置，其特征在于：包括对工件进行校正定位的校正定位机构，和直接检验工件凸起的高度的检验机构；所述校正定位机构包括抵顶于工件上凸起所在的正面的基准板，压紧于工件背面的压紧板，和驱动压紧板对工件进行压紧的驱动装置；所述检验机构包括检验触动部，和电路及状态标示部；所述检验触动部包括检验端对应抵顶于工件凸起端部的运动芯子，上限导电触头，和下限导电触头；所述运动芯子的非检验端配设有抵顶弹簧；所述运动芯子具有与所述上限导电触头相对应的上限触头，和与所述下限导电触头相对应的下限触头；所述电路及状态标示部包括由所述上限导电触头和上限触头触发的上限导电回路，及由所述下限导电触头和下限触头触发的下限导电回路；所述上限导电回路中串联有标示工件凸起高度超出上限的上限状态标示装置，所述下限导电回路中串联有标示工件凸起高度超出下限的下限状态标示装置。

2.根据权利要求1所述的一种检验工件的凸起高度的新型检验装置，其特征在于：上述运动芯子竖向设置，检验端朝上，非检验端朝下，两端之间形成有凸块，此凸块的上边缘作为上述下限触头，下边缘作为上述上限触头；上述下限导电触头设于所述下限触头的上方，上述上限导电触头设于所述上限触头的下方；且所述凸块的上边缘至所述下限导电触头的距离与下边缘至所述上限导电触头的距离之和为工件凸起高度的公差。

3.根据权利要求2所述的一种检验工件的凸起高度的新型检验装置，其特征在于：上述上限导电触头包括两个相离的上限触点导电块，作为上述上限导电回路的开关触点，上述上限触头对应两所述上限触点导电块的间隙设置，作为两所述上限触点导电块的触发开关；上述下限导电触头包括两个相离的下限触点导电块，作为上述下限导电回路的开关触点，上述下限触头对应两所述下限触点导电块的间隙设置，作为两所述下限触点导电块的触发开关。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的一种检验工件的凸起高度的新型检验装置，其特征在于：多个上述检验触动部与工件的多个凸起一一对应设置。

5.根据权利要求4所述的一种检验工件的凸起高度的新型检验装置，其特征在于：上述驱动装置的伸缩驱动杆的端部设有与上述压紧板相平行的顶板，所述顶板与所述压紧板之间平衡张设有多个压紧弹簧。

6.根据权利要求5所述的一种检验工件的凸起高度的新型检验装置，其特征在于：上述顶板向下设有导向杆，上述压紧板滑动套设于所述导向杆上。

7.根据权利要求6所述的一种检验工件的凸起高度的新型检验装置，其特征在于：上述导向杆为螺杆头朝下，上端具有外螺纹并与上述顶板螺接的螺杆，多个所述螺杆均布于所述顶板上；上述压紧板通过套孔匹配滑动套设于所述螺杆头上方，且所述套孔的下端口形成有完全容置所述螺杆头的凹槽。

8.根据权利要求7所述的一种检验工件的凸起高度的新型检验装置，其特征在于：上述运动芯子呈方柱状，上述检验触动部包括水平设置的导向板，所述导向板形成有供各上述运动芯子一一对应匹配穿过的导向孔。

9.根据权利要求8所述的一种检验工件的凸起高度的新型检验装置，其特征在于：上述基准板形成有多个一一匹配容置工件的多个凸起的透孔；上述运动芯子的检验端设有由所述透孔的下端向上伸入与工件的凸起的端部相抵顶接触的端头。

10.根据权利要求9所述的一种检验工件的凸起高度的新型检验装置，其特征在于：上述驱动装置配设有驱动支架；上述检验触动部配设有壳体；所述驱动支架包括与上述基准板连接在一起的底板、分设于工件两侧并与底板连接在一起的竖向支板，和水平横设于两竖向支板上的横板，所述底板形成有对应容置所述基准板的容置通口；所述驱动装置设于所述横板上方，上述伸缩驱动杆由上至下贯穿所述横板与上述顶板连接，所述顶板向上设有多个驱动导向杆，所述横板形成有供多个所述驱动导向杆一一匹配穿过的驱动导向孔；所述壳体包括上壁、底壁和侧壁；所述上壁设于所述底板和上述导向板之间，并形成有供上述运动芯子穿过的通孔；所述底壁设于上述检验触动部下方，上述抵顶弹簧的下端抵顶于所述底壁的上表面；所述侧壁围设于所述上壁和底壁之间；上述电路及状态标示部配设有外壳，与所述侧壁连接。