[发明专利]基于GaN衬底CVD外延生长石墨烯的化学腐蚀转移方法有效
申请号: | 201310647163.4 | 申请日: | 2013-12-03 |
公开(公告)号: | CN103606514A | 公开(公告)日: | 2014-02-26 |
发明(设计)人: | 王东;闫景东;宁静;韩砀;柴正;张进成;郝跃 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;C30B25/02;C30B25/18;C30B29/02 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 gan 衬底 cvd 外延 生长 石墨 化学 腐蚀 转移 方法 | ||
技术领域
本发明属于微电子技术领域,涉及石墨烯的制造方法和转移方法,特别是基于氮化镓(GaN)衬底的化学气相沉积CVD外延生长石墨烯以及通过化学腐蚀衬底来转移石墨烯的方法,可用于CVD外延设备的石墨烯材料生长和转移。
技术背景
石墨烯是一种碳基二维晶体,具有极佳的物理化学性质。石墨烯表面的二维电子密度达到1013cm-2,电子的迁移率超过200000cm2V-1s-1,电子饱和漂移速度高达108cms-1。由于这些优异的电学性质,石墨烯具备了制造超高速电子器件的潜力,2010年,IBM公司成功研制出最高频率超过100GHz的石墨烯FET,到2011年已经超过200GHz,美国国防部先进计划预研局DARPA提出的碳基电子研究计划项目预计2013年制作出最高频率超过500GHz石墨烯场效应晶体管FET。可见,石墨烯已经成为目前国际科技界和产业界关注的焦点。
目前,石墨烯材料的制造方法很多,但是能够制造出大面积、高质量、晶圆级石墨烯的途径只有两种:一种是由过渡族金属催化分解甲烷(CH4)来进行化学气相沉积CVD生长石墨烯,具体原理是过渡族金属催化分解出碳,通过碳-金属的固相溶解——碳原子降温析出——碳原子结晶重构,从而在金属表面形成石墨烯,这种方法可以突破衬底尺寸限制,可用于制备大面积石墨烯;另一种是碳化硅(SiC)衬底高温热分解法,这种方法则是在高真空高温下分解SiC,Si蒸发,剩余C结晶重构形成石墨烯,可以得到平整的高质量石墨烯材料。但是,当第二种方法用于制造大面积石墨烯时,它所需的SiC衬底和热分解设备昂贵,制造过程可控性差,而对于已经进入应用阶段的石墨烯研究来说,制约其发展的关键问题是制造石墨烯的成本,以及制造出的石墨烯面积大小。所以,国内外普遍采用CVD外延和衬底转移技术制备大面积石墨烯。
石墨烯转移是大面积石墨烯应用研究的关键环节,转移技术是关乎其最终电化学性质的核心技术。目前,对于CVD法制造出的石墨烯,国际上普遍采用石墨烯上表面PMMA支撑——湿法腐蚀石墨烯下方金属——石墨烯转移至目标衬底的转移工艺。对于常用的金属衬底,如铜箔、镍箔等,湿法腐蚀一般需要4~24小时。这样的转移效率,如果仅作实验室研究和小批量器件研制是可以接受的,但其相对腐蚀速度随着面积的增加而减小,导致转移耗时过长,非常不利于大面积转移。另外,用于石墨烯生长的高质量金属箔需要专门购买,其产品参数受制于供应商提供的特定规格,要想改变金属衬底尺寸、晶向、几何形状等参数还需要额外的处理,不方便进行生长衬底的质量优化;而利用热蒸发、电子束蒸发等手段先在晶体衬底淀积一层金属薄膜,在淀积过程中可以自由控制金属膜厚、金属膜晶向等,减少不必要的浪费,有利于批量生产。但因非石墨烯接触面附着在其他衬底上,另外一面被石墨烯掩蔽,所以只有金属侧边与腐蚀液接触,有效接触面积极小,其腐蚀的时间大大增加,而且腐蚀效果明显变差,以至于造成石墨烯的电学性质退化。
发明内容
本发明的目的在于克服上述已有技术的不足,提供一种基于GaN衬底CVD外生长石墨烯的化学腐蚀转移方法,以提高石墨烯转移的效率和石墨烯的材料质量。此方法可以把石墨烯转移到任意目标衬底。
实现本发明目的技术关键是:采用非极性a面的GaN体系衬底上沉积铜膜,进而进行CVD外延生长石墨烯。利用GaN衬底侧向不同原子终止面和不同晶面的GaN衬底腐蚀特性不同,通过改变腐蚀溶液的溶质种类、浓度、温度等条件,实现石墨烯下方GaN衬底和金属的腐蚀。其实现步骤包括如下:
(1)将a面碳化硅6H-SiC衬底置于金属有机物化学气相淀积MOCVD反应室中,向反应室通入镓源与氨气的混合气体,镓源流量为50-200μmol/min,氨气流量为1000-3000sccm,持续0.5-1小时,生长出厚度为1-3μm的a面GaN衬底;
(2)将反应室抽真空,在保证气压不高于10-6Torr的条件下,在GaN衬底上电子束蒸发沉积厚度为1-2μm的Cu薄膜;
(3)向反应室通入流量为1~20sccm的H2,升高反应室内温度至900~1000℃,对沉积的Cu薄膜进行热退火,退火时间为20~60min;
(4)向反应室通入流量为20~200sccm的H2和流量为2~20sccm的CH4,通过化学气象淀积CVD生长石墨烯10~20min;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造